1) XRD diffraction
XRD衍射技术
1.
By XRD diffraction and electron microscopy TEM tests,Fe-Ni alloy phase and morphological characterization of its whisker are analyzed.
用XRD衍射技术和TEM电镜测试手段,进行了合成Fe-Ni合金的物相分析和晶须形貌的表征。
2) X-ray diffraction technique (XRD)
X射线衍射技术(XRD)
3) X-ray diffraction
XRD衍射
1.
Their charge-discharge capability,X-ray diffraction chart and electrochemical properties were tested and analyzed.
采用电弧炉熔炼法制备了以Ti和B为基础的TiMB2(M=Co、Ni)活性电极材料,并对它们的充放电性能、充放电前后XRD衍射图谱及电化学性能进行了测试与分析。
4) XRD
XRD衍射
1.
This paper provides the XRD and P-E testing results,which indicates this BST target has crystalloid structure and good ferroelectric performance.
实验通过XRD衍射和P-E试验分析了所制BST溅射靶的微结构和铁电特性。
5) XRD spectra
XRD衍射图
6) XRD diffraction patterns
XRD衍射峰
补充资料:X射线衍射技术
X射线衍射技术
X-ray diffraction techniques
X 3hex一on yansheJ一shux射线衍射技术(x一ray diffraetion tech-niques)用X射线照射晶体产生衍射从而测定晶体结构的技术一912年M.劳厄(Max von Laue)发现X射线与物质作用在晶格处产生衍射现象。1913年W.H.布拉格(WIlliam Henry Bragg)在仔细研究劳厄提出的理论之后,创立了衍射理论,成为晶体结构分析的基础。当波长为几的X射线,射到间距为d的点阵平面上,掠射角为6(见图),当满足以~Zdsin6条‘‘.J、..‘ 甘件时,则将在反射方向上得到因.加而加强的衍射线。这便是著名的布拉格公式,式中n为整数。X射线衍射技术的荃本任务是记录.面X射线衍射示意图和测t衍射花样,目前主要有照相和扫描法两种。照相法所用仪器是X射线衍射相机,扫描法为X射线衍射仪.测t衍射峰位置和形状,可得到晶胞的尺寸(点阵参数和d值)、晶形和晶体取向,提供微晶和发生应变的点阵畸变信息。测量峰高度或峰轮廓线下的面积,得到各峰相对强度,可提供晶胞中原子位里的数据.X射线衍射技术主要有劳厄法、旋转晶体法和粉末法等三种方法。劳厄法所用X射线为波长范围很宽的连续谱,用于测定单晶取向和某些对称要素。旋转晶体法的试样也为单晶,使用单色X射线。由于可取得更宽的角度范围,通常用于分析晶体结构。粉末法「即多晶体法或德拜一谢乐(Debye一Scherrer)法j,试样为无规则取向的晶体粉末组合,用于物相分析. 在电力工业中,X射线衍射技术主要用于金属碳化物、腐蚀产物、水中沉淀物、水垢及灰粉的物相分析和金属残余应力测蚤等,有的如碳化物结构分析方法已发展成为电厂金属监督的常规方法。 物相分析的荃本原理是,某种物质的粉末衍射花样反映该物质的特征,具有固定的一组晶面间距d值和各衍射峰相对强度。与标准数据对比即可用检索定出被测物质的相成分。金属X射线应力测量是通过测定金属内部某特定晶面间距,从无应力至有应力的变化值,来确定金属表面应力。X射线衍射仪法测定应力公式:口~Eeot(2氏一2民)2(1+。)sinZ必,式中E为杨氏模t一为泊松比.必为试样面法向与晶面法向夹角;2氏和2民各为沪二0’及沪~45。时的衍射角。 用于X射线衍射分析的X射线衍射仪已广泛应用于物相分析并成为金属监督的常规手段,当配有专用计算机时,可将全部标准数据输人进行自动检索代替人工得出分析结果。
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参考词条