1) multi-phase measurement technology
多相计量技术
3) Multiphase
[英]['mʌltifeiz] [美]['mʌltɪ,fez]
多相技术
4) metering technology
计量技术
1.
Take the metering of condensate gas in Yakla-Dalaoba Gasfield for example, a multianalysis is carried out on the physical properties of condensate gas,operating environment of metering instruments and characteristic of meters, and metering technology for the different requireme.
针对凝析气气质特性较为复杂,给气田天然气计量仪表选型、使用及维护带来较大困难的情况,以雅克拉-大涝坝凝析气田为例,从凝析气气质特性、计量仪表工作环境、仪表特性等多个角度进行了分析,讨论了适合凝析气田天然气不同计量要求的计量技术。
5) measurement technology
计量技术
1.
In view of the different characteristics of well measurement in low, medium and high water-bearing period in Ansai Oilfield, describes the application of digital measurement technology in the single well, the well group and the well station of Ansai Oilfield; evaluates the application effect.
针对安塞油田在低、中高含水期油井计量的不同特点,对数字化计量技术在安塞油田单井、井组和井站的应用状况进行了描述,对应用效果进行了评价,并提出了安塞油田计量技术向仪表化、自动化、数字信息化方向发展的规划。
2.
The explanation centers around the relationship of energy measurement technology and technological reform of energy conservation in enterprises.
论述了企业能源计量技术与节能技术改造的关系,强化各种先进能源计量技术的应用力度,提高企业的能源计量管理水平。
3.
The 18th and 19th centuries are a key period when Weihgts and Measures in Ancient Times stepped into the measurement technology, and also a period when the military technology and crafts made the most rapid development.
18、19世纪是计量技术由古代度量衡走向现代计量技术的关键时期,同时也是一个军事技术飞速发展和工艺发达的时期,作为军事技术核心的武器技术与计量技术存在着错综复杂的关系。
补充资料：长度计量技术：光栅测长技术
利用光栅產生的莫尔条纹测量位移和轮廓形状等的长度计量技术。测量位移时﹐将计量光栅副中的光栅尺和指示光栅分别固定在长度测量工具或机床等的移动件(例如滑架)和不动件(例如机床导轨)上。两者相隔一个很小的间隙(一般为 0.05～0.1毫米)。当滑架移动时﹐出现在光栅副上的莫尔条纹的週期性光强变化﹐通过光电转换元件转换为正弦波形电信号﹐经放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分后即可得出光栅位移量。由光源﹑计量光栅副和光电转换元件等组成的部件称为光栅式长度传感器。由光栅式长度传感器和放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分组成的系统称为光栅测量系统(见图 光栅测量系统 )
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条