1) fiber surface density
纤维表面密度
2) sectional fibre populousness
截面纤维稠密度
3) fiber density
纤维密度
4) fiber surface
纤维表面
1.
This paper mainly introduced the fundamentals of some modern analysis techniques: AFM, CFM, XPS, ToF-SIMS and their applications in fiber surface studies.
阐述了原子力显微镜(AFM)、化学力显微镜(CFM)、X射线光电子能谱(XPS)、飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)几种先进表面分析技术的基本原理以及用于纸浆纤维表面研究的新进展。
2.
The working principles of several advanced surface analysis instrument including X-ray photoelectron spectroscopy(XPS),atomic force microscopy(AFM) and time of flight secondary ion mass spectroscopy(ToF-SIMS) are introduced, their successful application in fiber surface analysis recent years is reviewed.
介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题。
6) intraepidermal nerve fiber density(IENFD)
表皮神经纤维密度
补充资料：碳(石墨)纤维增强体(见碳纤维、石墨纤维)
碳(石墨)纤维增强体(见碳纤维、石墨纤维)
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说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条