1) metrological microscopy
计量型显微镜
2) metrological AFM
计量型原子力显微镜
1.
Realization of a Large Range Metrological AFM using NMM;
利用纳米测量机实现大范围的计量型原子力显微镜
3) metrological AFM of nanomeasuring system
计量型原子力显微镜纳米测量系统
1.
The AFM is one of important and useful nanomeasuring instruments,we have developed the metrological AFM of nanomeasuring system at NIM.
中国计量科学研究院成功研制了计量型原子力显微镜纳米测量系统,本文介绍了该系统的技术特点和指标,并通过与发达国家的比对测试验证了该系统在测量原理、测量精度及可溯源性方面已达到了国际先进水平。
4) large toolmaker's measuring microscope
大型工具测量显微镜
5) uric dreg
显微镜计数
1.
Objective: To discuss the veracity and the effecting factors when Sysmex UF-100 automatic uric dreg analyzer is used to detect and measure the quality and quantity of the shaped components in uric dreg.
方法 :应用配对分析法将同一标本同时用显微镜计数法和仪器检测红细胞、白细胞和管型 ,对检测结果进行对比分析。
6) dust-counting microscope
计尘显微镜
补充资料：显微镜19世纪中期的显微镜
[图]
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条