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1)  electron interaction
电子相关作用
例句>>
2)  the charge dependence of N-N interaction
电荷相关互作用
1.
These results show that the mixed QCD×QED interactions have aneffect on the charge dependence of N-N interaction and that the effectis bigger than that of the usual electro-magnetic interaction.
该文用夸克模型和共振群方法计算了QCD和QED交叉项引起的N-N散射长度差别,证明QCD和QED交叉项对电荷相关互作用有影响,而且效应比普通电磁作用强得多。
3)  electronic switching
电子开关作用
4)  Electron correlation in closed shell
闭壳层之间的电子相关作用
5)  electron-phonon interaction
电-声子相互作用
1.
Based on the spin-polarization ferromagnetism theory of Hirsch and taking the electron-phonon interaction into account,we study the effect of electron-phonon interaction on the spontaneous magnetization m of metallic hydrogen at zero temperature.
运用Ｈｉｒｓｃｈ的自旋极化铁磁理论并计入电－声子相互作用，讨论了金属氢在Ｔ＝０Ｋ时的自发磁化强度随晶体的Ｗｉｇｎｅｒ－Ｓｅｉｔｚ半径ｒ的变化。
2.
Using the density-functional perturbation theory by the linear response method, the lattice dynamics and the electron-phonon interaction of MgB2 film are studied.
结果发现,MgB2薄膜中的声子存在软化现象,并且声子的软化提高了电-声子相互作用,从而增强了薄膜的超导电性。
3.
The quantized LO and IO phonon fields as well as their corresponding electron-phonon interaction Hamiltonians are also derived.
为了描述受限纵光学声子的振动,采用了一个正确的LO声子势函数,同时,为了处理系统中的界面光学声子,采用了行列式解线性方程组的方法,得到了量子化的LO与IO声子场以及它们的电-声子相互作用哈密顿。
6)  electron-phonon interaction
电声子相互作用
1.
Influence of electron-phonon interaction on single electron tunneling in a quantum dot molecule;
电声子相互作用对量子点分子中单电子隧穿的影响
补充资料：电工电子产品环境试验国家相关标准

一、GB/T2423 有以下51个标准组成：
1 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验A: 低温


2 GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验B: 高温


3 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法


4 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db: 交变湿热试验方法


5 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则: 冲击


6 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Eb和导则： 碰撞


7 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)


8 GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ed: 自由跌落


9 GB/T 2423.9-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Cb: 设备用恒定湿热


10 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Fc和导则: 振动(正弦)


11 GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fd: 宽频带随机振动--一般要求


12 GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动--高再现性


13 GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdb: 宽频带随机振动 中再现性


14 GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdc: 宽频带随机振动 低再现性


15 GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度


16 GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验J和导则: 长霉


17 GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka: 盐雾试验方法


18 GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验--试验Kb:盐雾, 交变(氯化钠溶液)


19 GB/T 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法


20 GB/T 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法


21 GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验 M: 低气压试验方法


22 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化


说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条