1) Attribute control charts
计数控制图
2) designing of control chart
控制图参数设计
5) Statistical Control Chart
统计控制图
1.
Software Inspection Process Based Statistical Control Chart Improvement;
基于软件评审过程的统计控制图改进
6) average number control diagram
均数控制图
1.
It uses the average number control diagram on the basis of measuring the acid value of higher polymer by electronic titration, so that the analytical quality is ensured during the measuring process.
提出用均数控制图来评价分析结果的可靠性方法。
补充资料:不合格品率控制图(p图)
不合格品率控制图(p图)
control charts for fraction defective
buhsgePinIO kongzhitu不合格品率控制图《p图)(cootrol chaztsfor俪ction de公兑tive)利用样本的一定类型的不合格品率(川,评估和监察过程的控制图,也是计数型控制图中最常用的控制图。计数数据往往能够快速而较便宜地取得,一般也不需要特别的收集技巧。计数型控制图的参数均值(产)与标准差(的是互相关的:例如,样本不合格品率(川的均值巧=p,标准差丐二石可下不下石,式中尸为过程或总体的平均不合格品率,。为样本大小。确定产,、凡中的一个就等于确定另一个,故只有一个独立的参数,即总体平均不合格品率p,因此,控制不合格品率(p)仅一张控制图就足够了。p图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计件值的场合。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等。 p图的控制界限也是从休哈特控制图控制界限的总公式,即休哈特的3。方式导出的,具体如下:UCL二P+3_户,。丫六,一户,。CL二PoPLCL二P一3了P(l一P)/n了P(l一P)In。户一3丫户(:一户)/n式中:UCL为上控制限,比L为下控制线,CL为中心线,笋为总体平均不合格品率p的估计值,通常久。所有不合格品数厂“厂二一班看释魂礴「一 由于在p图的上下控制界限uCL、优L公式中含有样本大小n,故当n变化时,p图的上下控制界限呈凹凸状,不但作图难,而且更重要的是在p图上难于判断异常,也难于判断稳定。这时采用通用拉制图,可以克服上述困难。下页左图是一个实例的p图与不合格品数通用控制图(pn;图)的对比。(孙静)
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条