1) X-ray photoelectron spectroacopy
X线光电子分光法
2) X-ray photoelectron spectrometry
X射线光电子谱法
3) X-ray photoelectronic spectroscopy
X-射线光电子能谱法
4) X-ray photoelectron spectroscopy analysis
X射线光电子能谱分析
1.
The structure and X-ray photoelectron spectroscopy analysis of double-atom filled skutterudite compounds;
双原子填充式skutterudite化合物的结构及X射线光电子能谱分析
5) X-ray photoelectron spectroscopy
X射线光电子谱
1.
X-ray photoelectron spectroscopy analysis (XPS) was used to analyze the tin ion permeation near the surface of different float glass samples.
利用X射线光电子谱仪(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)对国内外浮法玻璃样品(样品A和样品B)下表面渗锡情况进行了对比分析。
2.
The films were characterized with Raman spectroscopy,X-ray photoelectron spectroscopy(XPS),and atomic force microscopy(AFM).
利用双放电腔微波ECR等离子体增强非平衡磁控溅射技术,在Si(100)上制备氮化碳薄膜,并对薄膜进行了拉曼(Raman)、原子力显微镜(AFM)、X射线光电子谱(XPS)等结构的表征。
3.
The interaction between Pt and CeO 2 was studied by X-ray photoelectron spectroscopy.
用X射线光电子谱研究了CeO2 和Pt间的相互作用 ,探讨了通过相互作用能提高CeO2 的氧化还原反应活性的机理 ,并与通常的金属和载体强相互作用的机理进行了比较。
6) XPS
X射线光电子谱
1.
XPS Study on Electronic Structure for PtSi/p-Si(111);
利用X射线光电子谱对PtSi/p-Si(111)的电子结构研究
2.
It is well known that low energy ion sputtering plaps an important role in quantification of surface composition by AES and XPS,such as to clean surface contamination and obtain depth profiles by low energy ion beam sputtering,ect.
由于离子溅射改变了固体表面化学成分，引起表面成分的再分布，使俄歇电子谱、X射线光电子谱以及二次离子质谱等表面分析手段，对溅射后固体表面成分的定量分析结果与实际结果有较大的差别。
3.
The formation process of Ti/Al2O3(1102) interface has been studied by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Auger electron spectroscopy(AES).
用X射线光电子谱（XPS）和俄歇电子能谱（AES）研究了Ti／Al_2O_3界面形成的过程。
补充资料：光脚阳线和光脚阴线
光脚阳线和光脚阴线——
光脚阳线和光脚阴线就是没有下影线的阳线和阴线。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条