2) HRTEM
高分辨电镜
1.
The result of HRTEM analysis shows that there are only 180℃ domains exiting in the grains and the thickness of grain boundary is approximately two times of the crystal lattice constant.
对样品的高分辨电镜分析表明，晶粒中只有１８０°电畴，没有９０°电畴，晶界宽度相当于两倍的晶格常数。
2.
The microstructures and mechanical properties at the interfaces of the multilayer and the substrate were characterized with scanning electron microscopy,(SEM),high resolution transmission electron microscopy(HRTEM),and atomic force microscopy(AFM).
本文通过扫描电镜、高分辨电镜及原子力显微镜研究了氧化铬薄膜及界面的微观结构。
3) high resolution electron microscopy
高分辨电镜
1.
Interface structure related to growth of β- Si_3N_4 in hot pressed silicon nitride was observed by high resolution electron microscopy (HREM).
用高分辨电镜观察了热压氮化硅中β相晶体生长界面的结构特点,用链柱结构描述并比较了α和β氮化硅晶体结构的异同,指出了β氮化硅晶体在α氮化硅品格中生长可以通过部分原子的迁移实现。
4) high resolution electron microscope
高分辨电镜
1.
The microstructure and composition of a Si 3N 4 SiC namo composite have been investigated by means of JEM 2000EXⅡ high resolution electron microscope(HREM and HF 2000 analytical transmission electron microscope with a field emission gun(FEG TEM).
利用ＪＥＭ２０００ＥＸⅡ高分辨电镜和ＨＦ２０００冷场发射枪透射电镜对Ｓｉ３Ｎ４ＳｉＣ纳米复合陶瓷材料的微观组织、结构和成分进行了研究。
5) HRTEM
高分辨透射电镜
1.
HRTEM photographs indicated that the nanoparticles were single-crystal corresponding to the FESEM and XRD results,and the CaB6 crystal consisted well crystallized CaB6 core and thin amorphous shell (4～5 nm).
高分辨透射电镜(HR-TEM)表明纳米颗粒为单晶,这一发现与XRD和FESEM的结果相对应,且观察到晶体是以结晶良好的CaB6为芯,外面包覆着厚约4～5nm的非晶层。
补充资料：高分辨电镜
分子式：
CAS号：
性质：通常指用来观察很薄试样的相位衬度像(点阵像和结构像)的具有厚尺度分辨本领的透射电镜。若将电子的加速电压提高到1000kV，则观察试样可厚达数μm，这种电镜称为超高压高分辨电镜。
CAS号：
性质：通常指用来观察很薄试样的相位衬度像(点阵像和结构像)的具有厚尺度分辨本领的透射电镜。若将电子的加速电压提高到1000kV，则观察试样可厚达数μm，这种电镜称为超高压高分辨电镜。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条