1) I-V curve measurements
I-V曲线测量
2) V/I-I curve
V/I-I曲线
3) I-V curves
I-V曲线
1.
At first,a structure with high peak-to-valley ratio was used as the device because the sensitivity depends on the slop of I-V curves.
由于高灵敏度是依靠较高的I-V曲线斜率获得的,因此最初人们希望选择具有较高峰谷比结构作为器件。
4) I-V curve
I-V曲线
1.
<Abstrcat>The design of microwave power amplifier needs large-signal S parameters,but under most circumstances,the designer only has small-signal S parameters and the static I-V curve.
微波功率放大器设计需要大信号S参数,但大多数情况下,设计者只有小信号S参数和静态I-V曲线。
2.
In this paper,the shortages of Sequential Number-Theoretic Optimization for correlating the I-V curve of solar cells are analysed.
文章分析了序贯数论优化算法用于太阳电池I-V曲线拟合时的不足之处,将遗传算法中自适应搜索的思想和序贯数论优化算法相结合提出了一种自适应伪蒙特卡罗算法。
3.
The ideality factor and series resistance were obtained by fitting the I-V curve,and their effect on responsivity and noise of the detector was analyzed.
采用p-InP/n-InGaAs/n-InP外延异质结材料,制备了InGaAs线列台面探测器,并测试了器件的I-V曲线、响应率和噪声。
5) V-I curve
V-I曲线
6) I-V characteristic curve
I-V特性曲线
1.
In order to get I-V characteristic curves and characteristic parameters of solar cells, the software system for solar cell testing is developed using Visual C++ based on Windows operator system.
为了获得太阳电池的I-V特性曲线及特性参数,利用Visual C++语言开发出基于Windows平台的太阳电池测试软件系统,并对基于补偿原理的I-V测试电路参数匹配进行了详细分析。
补充资料：冲击压缩曲线的基本测量方法
冲击压缩曲线又称许贡纽曲线。从质量守恒、动量守恒和能量守恒导出的三个冲击波关系式中包括比容v、压强p、比内能E、粒子速度U和冲击波速度D等五个变量，只要测出其中任意两个量，就能对该方程组求解。原则上讲，除比内能外，其他各量都是可以测量的。在高压冲击压缩线测量中，通常选定D、U作为测量参量，这是因为测量速度量的技术比较简便，精度较高。
对于一般固体介质，当冲击压力为数百万巴（具体数值随材料而异）以下时，冲击波速度D与粒子速度U存在线性关系D－U0＝с0＋λ(U－U0), (1)
相应的冲击压缩线方程为。 (2)
压力再高，D－U线性关系不再成立，而应作如下修正D－U0＝с0＋λ(U－U0)－λ┡(U－U0)2, (3)
(4)
式中с0、λ及λ┡均为材料常数,с0为零压体积声速。由此可知，只要测得不同压力下材料的(Di，Ui)点集之后，再用数据拟合法求出с0、λ、λ┡,并通过式(2)或式(4)即可得到(p,v)平面内的冲击压缩线。
D值是可以直接测量的，U值则要通过测量飞片速度（见冲击波产生技术）或样品的自由面速度，再通过换算求得。由同种材料制成的飞片和靶相撞时，若飞片温升可以忽略不计，飞片速度严格等于二倍粒子速度。此外，对大多数中等冲击阻抗的样品材料，当冲击压力在100万巴以下时，自由面速度近似等于二倍粒子速度。
速度量的精确测量有以下两种主要方法。
闪光隙法 测量原理见图1。它是利用不同测量位置上气隙内的闪光来显示冲击波、飞片或自由面的到达时间。图1b中的t1代表冲击波通过对应样品的时间，可用于计算冲击波速度D;t2代表冲击波通过对应样品的时间及样品自由面飞越对应空隙的时间之和，可用于计算样品的自由面速度。信号光源取自有机玻璃块和样品（或盖片）之间的空气或氩气受冲击压缩后所产生的辐射光。波形信号由光机式或光电式高速扫描相机进行记录。
电探针法 测量原理见图2。当冲击波、飞片或自由面到达测量位置时，由电探针启动信号形成电路，送出一个电脉冲信号，以显示被测信息到达的时间。通过高速脉冲示波器或数字化记录仪进行记录。从图2b可见，由探针2、3所给出的信号的时间差t1可以算出样品中的冲击波速度，而探针1、2所给信号的时间差t2可以求得样品的自由面速度。
对于一般固体介质，当冲击压力为数百万巴（具体数值随材料而异）以下时，冲击波速度D与粒子速度U存在线性关系D－U0＝с0＋λ(U－U0), (1)
相应的冲击压缩线方程为。 (2)
压力再高，D－U线性关系不再成立，而应作如下修正D－U0＝с0＋λ(U－U0)－λ┡(U－U0)2, (3)
(4)
式中с0、λ及λ┡均为材料常数,с0为零压体积声速。由此可知，只要测得不同压力下材料的(Di，Ui)点集之后，再用数据拟合法求出с0、λ、λ┡,并通过式(2)或式(4)即可得到(p,v)平面内的冲击压缩线。
D值是可以直接测量的，U值则要通过测量飞片速度（见冲击波产生技术）或样品的自由面速度，再通过换算求得。由同种材料制成的飞片和靶相撞时，若飞片温升可以忽略不计，飞片速度严格等于二倍粒子速度。此外，对大多数中等冲击阻抗的样品材料，当冲击压力在100万巴以下时，自由面速度近似等于二倍粒子速度。
速度量的精确测量有以下两种主要方法。
闪光隙法 测量原理见图1。它是利用不同测量位置上气隙内的闪光来显示冲击波、飞片或自由面的到达时间。图1b中的t1代表冲击波通过对应样品的时间，可用于计算冲击波速度D;t2代表冲击波通过对应样品的时间及样品自由面飞越对应空隙的时间之和，可用于计算样品的自由面速度。信号光源取自有机玻璃块和样品（或盖片）之间的空气或氩气受冲击压缩后所产生的辐射光。波形信号由光机式或光电式高速扫描相机进行记录。
电探针法 测量原理见图2。当冲击波、飞片或自由面到达测量位置时，由电探针启动信号形成电路，送出一个电脉冲信号，以显示被测信息到达的时间。通过高速脉冲示波器或数字化记录仪进行记录。从图2b可见，由探针2、3所给出的信号的时间差t1可以算出样品中的冲击波速度，而探针1、2所给信号的时间差t2可以求得样品的自由面速度。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条