补充资料：X射线荧光谱

X射线荧光谱
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　　X射线荧光谱关ray fxuoreseenee Speetroseopy当物质受到足够能量的X射线光子照射时，物质中各组成元素受激发后，发射出自身的特征X射线谱。又称X射线二次发射光谱。 研究简史1895年，德国物理学家W.K.伦琴(ROntgen)发现X射线。初期X射线技术主要应用于医学、工业探伤等方面。1913年，英国物理学家H.G.J.莫塞莱(Moseley)发现X射线波长与原子序数的关系，奠定了X射线光谱分析的基础。1948年，第一台商品用X射线荧光光谱仪样机问世，使X射线荧光光谱分析进入实际应用阶段。几十年来，X射线荧光光谱分析随其理论和实验技术的发展，以快速、准确、非破坏性检测等优点，广泛应用于地质、冶金、化工、材料等领域。 原理X射线荧光光谱，同物理上其他荧光含义相类似:①它必须有激发源;②当激发源离去，荧光也随之消失 根据莫塞莱定律(一女一K(z一。)2)，特征谱线的波长与元素有关，这就是X射线荧光光谱元素定性分析的基础。而元素特征谱线的强度与相应元素，在试样中的含量有关，这是定量分析的依据。可测浓度的范围，通常从ppm级到常量。在实际工作中，通常适用于原子序数大于9以上的元素的测定。原子序数低于10的轻元素，由于荧光产额较低，检测比较困难。2()世纪70年代以来，随着电子技术和计算机技术等的发展和应用，以及新的分光晶体材料的出现，不仅仪器的性能和自动化程度大大地提高，而且对轻元素的检测范围也扩大到碳、氟等元素的测定。 X射线特征线分为若干线系，如K系、L系、M系等，同一线系中的各条谱线是由各个能级的电一子向同一壳层跃迁引起的。同一元素其K、L、M系谱线的强度比，近似于 100:10:l，同一线系的强度比亦有一定的关系。如K系，K。，:K。2:K，::K，，为100:50，15:20在元素的定性分析中，要根据这些谱线及它们之间强度比的关系来确认某元素的存在。特征谱线的符号组成以CuK。1、WL。:为例:①化学元素符号(如Cu、W);②线系符号(K、L、M、N)，右下方的希腊字母，通常带有一个数码下标，表示该线系中的某一条谱线，如K。1、L。1等。 X射线荧光光谱仪激发源为X射线，用以产生初级X射线的装置称X射线管。

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