1) point line combination
点线结合
1.
This paper discusses the proof of the point line combination problem by applying desargues theorem,pappus theorem,central projection method and harmonic property of the complete quadrangle.
结合实例探讨了利用Desargues定理及其逆定理证明点线结合问题,利用Pappus定理证明点线结合问题,利用中心投影把直线投射到无穷远证明点线结合问题,利用完全四点形的调和性质证明点线结合问题。
2) point-line complex structure
点-线复合结构
1.
To analyze the wire rope with special point-line complex structure strands that is the Seale structure stranded on the linear contact strand.
对在线接触结构外再捻制1层西鲁式结构而形成的特殊点-线复合结构股钢丝绳进行分析,提出在尽可能实现组股钢丝受力均匀一致和使组股钢丝捻制紧密前提下,参数设计应基于保持内层股最外层钢丝捻角与外层西鲁式结构内(外)层钢丝捻角相等的原则。
3) Line-Point Pattern
点线结合模式
4) binodal
[bai'nəudl]
双结点线
1.
Thermodynamic properties of PSf-DMAc-alcohols ternary systems are studied,the binodal is calculated.
对聚砜(PSf)-二甲基乙酰胺(DMAc)-醇类非溶剂构成的制膜体系的热力学特性进行了研究,计算出这些体系的双结点线,并用这些醇类非溶剂通过光散射法进行浊点滴定实验,浊点曲线与双结点线基本重合,验证了双结点线的计算结果。
5) line-node
线结点
1.
IDDQ test is suit for the bridging falt test in CMOS circuits, In this paper,Several basic concepts on IDDQ test of CMOS circuits has been given, IDDQ testable condition has been studied, and IDDQ testability of bridging faults of the line-nodes in static COMS circuits been has been proven theoretically.
IDDQ测试方法最适合CMOS电路桥接故障的测试 ,给出CMOS电路IDDQ测试的几个基本概念 ,探讨了桥接故障IDDQ可测性条件 ,从理论上证明了静态CMOS电路线结点桥接故障的IDDQ可测性 。
6) line-point structure
线点结构
补充资料：非结合环与非结合代数
非结合环与非结合代数
on-associative rings and algebras
非结合环与非结合代数【珊心胭仪妇柱视血娜.d alge-b旧s;。eaceo””姗.oe.二、双a.幼。6P。」 具有两个二元运算+与，，除了可能不满足乘法结合律外，满足结合环与代数(a洛。clati记nn邵and目罗b璐)之所有公理的集合.非结合环与代数的第一批例子出现在19世纪中叶，是不结合的(Ca外呀数(c盯触yn山n1比IS)和更一般的超复数(h”姆rComp恤nUmber)).给定一个结合环(代数)，如果用运算〔a，bl二ab一ba代替原有的乘法，其结果是一个非结合环(代数)，这是个Lie环(代数).另一类重要的非结合环(代数)是Jo攻lan环(代数)，它们可由在特征非2的域(或有1和1/2的交换的算子环)上的结合代数中定义运算a·b=(ab+ba)/2得到.非结合环与代数的理论已经发展成代数学的一个独立分支，展现出与数学的其它领域以及物理学、力学、生物学及其他学科的许多联系.这个理论的中心部分是熟知的拟结合环和代数(n比ly一别粥戊泊石wn刀乡缸记a】罗bras)的理论，它们有:Lie环和珠代数，交错环和交错代数，北攻坛幻环与Joltlan代数，MaJ几哪B环和Ma月五U口B代数，以及它们的某些推广(见Ue代数(Lieal罗bra);交错环与代数(司加叮必tiverm邵alld目罗b挑);J加止川代数(Jo攻协nal罗bIa);M幼城e。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条