1) C-scattered space
C-scattered空间
1.
Covering properties of product space of which one factor is C-scattered space;
带C-scattered空间因子的积空间的覆盖性质
2) C-C spase
C-C空间
3) C-Nagata space
C-Nagata空间
1.
We introduce the concepts of Theta-mapping (T-mapping), CN-mapping,using which, q-Spaces and C-Nagata spaces are characterized as images of a metric space under an open continuous T-mapping and CN-mapping,respectively.
引入了T-映射、CN-映射的概念,利用他们,将q-空间,C-Nagata空间分别刻画为某一度量空间的开连续T-映象,开连续CN-映象,开连续CN-映象,这是对Alexandroff系列问题的部分问题的肯定回答。
2.
This article utilizes Heath-hodel mapping to describe C-semistratifiable space and C-Nagata space.
利用Heath-Hodel映射,给出了C-半分层空间和C-Nagata空间的一种刻划。
4) C space
C空间
1.
Path planning for a manipulator based on the decomposition of C space and the roadmap method
基于C空间分解—路标法的机械手路径规划
2.
In this paper, the C space method is used to analyze the assembly states of the complex parts, and the boundary graph method is used to describe the assembly search process ,which can supply some useful theory elements for the complex parts assembly in the future research.
轴孔插入是典型的装配作业过程 ,本文先用 C空间法分析复杂件的插入装配状态 (分离、配合、干涉 ) ,然后用边界图法对复杂件的插入装配搜索过程进行理论研究 ,为复杂件的成功装配提供一定的理论基础。
3.
The Lipschitz property of the Sikkema-Kantorovich operators was studied in C space with an(elementary) method and Lipschitz condition of the Sikkema-Kantorovich operators in L~p space was discussed.
用较为初等的方法,研究Sikkema-Kantorovich算子在C空间的性质,并在Lp空间中讨论了Sikke-ma-Kantorovich算子的保Lipschitz性质。
5) C α space
C~α空间
6) C-space
C-空间
1.
The proposed algorithm guides the automation to the target in C-space by phases.
由红外线传感器提供机器人手臂周围环境信息,通过计算C-空间内一些方向上的C-空间障碍距离,分阶段控制位姿点到达目标。
补充资料：back scattered electron
分子式：
CAS号：
性质： 高能电子束轰击样品时，从距样品表面0.1～lμm深度范围内散射回来的入射电子。该电子的能量近似入射电子能量。在扫描电镜技术中，高能入射电子束轰击样品表面时，由于电子与物质间的相互作用是一个复杂的过程，故从样品中可激发出各种有用的信息，通过二次电子成像，可以了解样品表面的形貌、受激区域的成分以及有关样品力学、磁学、电子学等性能，其中背散射电子像则着重反映样品的表面形貌和原子序数的分布等。
CAS号：
性质： 高能电子束轰击样品时，从距样品表面0.1～lμm深度范围内散射回来的入射电子。该电子的能量近似入射电子能量。在扫描电镜技术中，高能入射电子束轰击样品表面时，由于电子与物质间的相互作用是一个复杂的过程，故从样品中可激发出各种有用的信息，通过二次电子成像，可以了解样品表面的形貌、受激区域的成分以及有关样品力学、磁学、电子学等性能，其中背散射电子像则着重反映样品的表面形貌和原子序数的分布等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条