1) fringe pattern analysis
干涉条纹图分析
2) Interference
干涉
1.
Research on the Collision and Interference Arithmetic in Numerical Control Machining Simulation;
数控仿真系统中碰撞干涉算法研究
2.
Analysis for interference in CNC machining;
数控加工中的干涉现象浅析
3.
Analysis of Interference In the Inner-milling Parallel Machine Tool;
内铣式并联机床运动空间干涉分析
3) Intervention
干涉
1.
Study on Intervention in Normal Circular-arc Bevel Gears Processing;
法向圆弧锥齿轮加工干涉研究
2.
Study on intervention in milling normal circular-arc bevel gears;
铣削加工法向圆弧锥齿轮的干涉研究
3.
The Principle of Humanitarian Intervention & Non-intervention into Other Country s Internal Affairs;
人道主义干涉与不干涉内政原则
4) Interfere
干涉
1.
Based on principals of interference of acoustic waves and simplified digital delay-line,comb filter effect induced by superposition of reflections from steps is presented.
从声波干涉的基本原理出发,通过数字延时线的简化分析,说明了多级台阶反射声的叠加对声波频率产生的梳状滤波效果。
2.
The interference measurement of microvibration displacement is realized by means of the principle of Michelson interferemeter.
本文对振动台位移幅值的自动测量方法进行了研究 ,利用迈克尔逊干涉仪原理实现了对微小振动位移的干涉测量。
5) interferometry
干涉
1.
Method for Expanding the Depth Measuring Range in the Surface Topography Measurement by Interferometry;
干涉法表面形貌测量使用的扩展深度测量范围的方法
2.
Approach to reversion of DEM based on polarimetric SAR interferometry;
基于极化SAR干涉反演DEM的方法
3.
Polarimetric SAR Interferometry;
极化合成孔径雷达干涉技术
6) Interferometric
干涉
1.
This paper describes a new technology for spray measuring named Interferometric Laser Imaging Droplet Sizing (ILIDS).
该文将介绍一种气液两相流测量的新技术一激光干涉气液两相流测量技术(ILIDS),它具有提取两相流参数全、测量精度高和测量区域较大等优 点。
2.
In this paper, we mainly discussed the research and design of an interferometric micro-fiber-end inspector.
主要涉及干涉显微式光纤端面检测仪的设计与制作及其相关理论的实验研究。
3.
Aiming at the interferometric phase wrapping in squint model,a novel interferometric inverse synthetic aperture radar(ISAR) imaging algorithm based on dominant scatterers is proposed.
针对雷达在斜视工作下的干涉相位模糊问题,提出了一种新的特显点干涉逆合成孔径雷达(ISAR)成像算法。
参考词条
补充资料：等厚干涉条纹
定域在薄膜附近，与膜的等厚度线一致的干涉条纹。为简单起见，先讨论一下由折射率均匀而夹角又很小的楔形平面板（可以是玻璃板，也可以是空气层）所生的干涉。如图1所示，由光源S发出的单色光,经平面板上、下两表面反射后在干涉场中某点 P所生的干涉效应取决于两相干的光的光程差：，
式中n和n┡分别为楔形平板和周围媒质的折射率。实际上，因为板的厚度一般都很薄，因此上式可近似用式，
式中d为楔形平板在B点的厚度,i2为入射光在A点的折射角。考虑到光在上、下两表面反射时产生的位相跃变,则又可写作，
式中λ为光的波长。由此式可以看出,当光源距楔形板较远或观察干涉条纹时的仪器（眼睛或低倍显微镜）的孔径很小，以致在整个视场内的光的入射角i1可视为常量时，则楔形板上、下两表面引起的两反射光在相遇点的位相差就只决定于产生该反射光处薄板的厚度d。显然，板上厚度相同的地方对反射光引起的光程差相同。因此同一干涉条纹是由板上厚度相同的地方引起的反射光形成的。这种干涉条纹称作等厚干涉条纹。在上述楔形平板的情况下，干涉条纹为平行楔棱的等距直条纹。
等厚干涉条纹的定域如图2所示。图2a中干涉条纹定域在楔形板上方的P处;图2b中干涉条纹则定域在楔形板下方的 P处。实际上由于楔形板很薄，只要光在板面上的入射角不大，则可认为干涉条纹定域在板表面上。因此，为观察或拍摄等厚干涉条纹，须将眼睛或照相机调焦到板表面上。
等厚干涉条纹在光学检验上有重要作用。如测楔形平板的微小角度，测定光学表面的曲率，检查光学表面的平整度，测量长度的微小变化等等。
式中n和n┡分别为楔形平板和周围媒质的折射率。实际上，因为板的厚度一般都很薄，因此上式可近似用式，
式中d为楔形平板在B点的厚度,i2为入射光在A点的折射角。考虑到光在上、下两表面反射时产生的位相跃变,则又可写作，
式中λ为光的波长。由此式可以看出,当光源距楔形板较远或观察干涉条纹时的仪器（眼睛或低倍显微镜）的孔径很小，以致在整个视场内的光的入射角i1可视为常量时，则楔形板上、下两表面引起的两反射光在相遇点的位相差就只决定于产生该反射光处薄板的厚度d。显然，板上厚度相同的地方对反射光引起的光程差相同。因此同一干涉条纹是由板上厚度相同的地方引起的反射光形成的。这种干涉条纹称作等厚干涉条纹。在上述楔形平板的情况下，干涉条纹为平行楔棱的等距直条纹。
等厚干涉条纹的定域如图2所示。图2a中干涉条纹定域在楔形板上方的P处;图2b中干涉条纹则定域在楔形板下方的 P处。实际上由于楔形板很薄，只要光在板面上的入射角不大，则可认为干涉条纹定域在板表面上。因此，为观察或拍摄等厚干涉条纹，须将眼睛或照相机调焦到板表面上。
等厚干涉条纹在光学检验上有重要作用。如测楔形平板的微小角度，测定光学表面的曲率，检查光学表面的平整度，测量长度的微小变化等等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。