1) carrier fringe of Moiré interferometry
云纹干涉载波条纹
2) holography of the carrier fringes
干涉条纹载波法
1.
This paper described and realized the multichannel synthetic holography of the carrier fringes and time-average method which applied various kinds of holographic interferometry synthetically and realized the multichannel holograms recordation by the way of plane reference waves modulated by the channel converting system of light path.
文中提出并实现了干涉条纹载波法一时间平均多通道综合全息术,这种技术综合应用了多种全息术并用光路通道转换器调制平面参考光波实现多通道全息图记录,再现时可同时观察所有通道的原始像。
3) carrier fringe pattern
载波干涉条纹
1.
There are noticeable errors at the border of the pattern when the traditional Fourier transform method (FTM) is used to evaluate the carrier fringe pattern.
针对传统傅里叶变换法处理光载波干涉条纹图时会有边缘效应产生的问题。
4) moire interferometry
干涉云纹
1.
Investigated stresses were relieved by cutting specimens along a radial direction, and additional strain fields created by relieving the stresses were measured using moire interferometry.
沿着径向将试件切割,以释放欲测的应力,同时用干涉云纹技术测量由于释放应力而引起的附加应变场。
2.
The residual stress distribution around cold expanded holes was measured by moire interferometry,the influence of reaming and fatigue on the residual stress were investigated experimentally.
应用干涉云纹测量了冷胀孔周残余应力分布，并用实验方法研究了铰孔和疲劳对残余应力的影响。
5) moire interferometry
云纹干涉
1.
The moire interferometry method and moire interferometry-finite element analysis hybrid method have been applied to study interface fracture behaviors of bimaterial specimen which is simulated to porcelain-Fused-to Metal (PFM) restoration.
本文利用云纹干涉法和云纹干涉一有限元混合法,对瓷修复体的模拟双材料模型界面断裂问题进行了实验研究。
2.
The thermal strain of bimetal soldering joint (Cu and Kovar) is analysed with moire interferometry method.
本文采用现代光测力学的云纹干涉法，对铜－可伐焊接件热应变问题进行了实验研究，确定了焊层的热应变特征，结果表明：由于热膨胀系数不匹配、焊层存在复杂的应力状态，它不仅受到焊板材料对它的剪切作用，而且受到纵向拉伸、挤压作用。
3.
Moire interferometry is an optical measurement which is noncontact and has big measuring range, wonderful fringe quality, real-time whole field measurement and high sensitivity, so it can measure the physical quantities about the tiny displacement and strain field of the surface of specimen accurately and effectively.
云纹干涉法是一种具有大量程、极好的条纹质量、非接触测量、实时全场观测和分析的高灵敏度的光学测量方法,能够对物体表面的微小位移和变形场等物理量进行精确有效的测量。
6) moiré interferometry
云纹干涉
1.
This study investigates a new 2-dimensional phase unwrapping method named RIPI (Regional Identification, partition and Integral phase unwrapping method), which is aiming at the problems of "line-draw" and loss of useful data while phase unwrapping in processing moiré interferometry experiment images.
本文针对实验力学云纹干涉图像去包裹处理中容易导致拉线的问题对RIPI(区域识别、划分和积分)去包裹法进行了研究。
2.
The technique of carrier modulation in Moiré interferometry is important in displacement measurement of an object.
在物体变形场的测量中,云纹干涉的载频调制技术有重要作用。
3.
Meanwhile, as a rapidly developing technique of photomechanics, moiré interferometry has attracted attention for its advantages of high sensitivity, excellent contrast, noncontact, real time, whole field, e.
云纹干涉法是一种高灵敏度、高对比度、非接触、实时观测、全场分析的光测力学实验技术；压电陶瓷智能结构以其力电耦合性强、线性控制、高灵敏低迟滞等优点在军工、民用、科研领域都得以广泛应用。
补充资料：等厚干涉条纹
定域在薄膜附近，与膜的等厚度线一致的干涉条纹。为简单起见，先讨论一下由折射率均匀而夹角又很小的楔形平面板（可以是玻璃板，也可以是空气层）所生的干涉。如图1所示，由光源S发出的单色光,经平面板上、下两表面反射后在干涉场中某点 P所生的干涉效应取决于两相干的光的光程差：，
式中n和n┡分别为楔形平板和周围媒质的折射率。实际上，因为板的厚度一般都很薄，因此上式可近似用式，
式中d为楔形平板在B点的厚度,i2为入射光在A点的折射角。考虑到光在上、下两表面反射时产生的位相跃变,则又可写作，
式中λ为光的波长。由此式可以看出,当光源距楔形板较远或观察干涉条纹时的仪器（眼睛或低倍显微镜）的孔径很小，以致在整个视场内的光的入射角i1可视为常量时，则楔形板上、下两表面引起的两反射光在相遇点的位相差就只决定于产生该反射光处薄板的厚度d。显然，板上厚度相同的地方对反射光引起的光程差相同。因此同一干涉条纹是由板上厚度相同的地方引起的反射光形成的。这种干涉条纹称作等厚干涉条纹。在上述楔形平板的情况下，干涉条纹为平行楔棱的等距直条纹。
等厚干涉条纹的定域如图2所示。图2a中干涉条纹定域在楔形板上方的P处;图2b中干涉条纹则定域在楔形板下方的 P处。实际上由于楔形板很薄，只要光在板面上的入射角不大，则可认为干涉条纹定域在板表面上。因此，为观察或拍摄等厚干涉条纹，须将眼睛或照相机调焦到板表面上。
等厚干涉条纹在光学检验上有重要作用。如测楔形平板的微小角度，测定光学表面的曲率，检查光学表面的平整度，测量长度的微小变化等等。
式中n和n┡分别为楔形平板和周围媒质的折射率。实际上，因为板的厚度一般都很薄，因此上式可近似用式，
式中d为楔形平板在B点的厚度,i2为入射光在A点的折射角。考虑到光在上、下两表面反射时产生的位相跃变,则又可写作，
式中λ为光的波长。由此式可以看出,当光源距楔形板较远或观察干涉条纹时的仪器（眼睛或低倍显微镜）的孔径很小，以致在整个视场内的光的入射角i1可视为常量时，则楔形板上、下两表面引起的两反射光在相遇点的位相差就只决定于产生该反射光处薄板的厚度d。显然，板上厚度相同的地方对反射光引起的光程差相同。因此同一干涉条纹是由板上厚度相同的地方引起的反射光形成的。这种干涉条纹称作等厚干涉条纹。在上述楔形平板的情况下，干涉条纹为平行楔棱的等距直条纹。
等厚干涉条纹的定域如图2所示。图2a中干涉条纹定域在楔形板上方的P处;图2b中干涉条纹则定域在楔形板下方的 P处。实际上由于楔形板很薄，只要光在板面上的入射角不大，则可认为干涉条纹定域在板表面上。因此，为观察或拍摄等厚干涉条纹，须将眼睛或照相机调焦到板表面上。
等厚干涉条纹在光学检验上有重要作用。如测楔形平板的微小角度，测定光学表面的曲率，检查光学表面的平整度，测量长度的微小变化等等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条