1) SIL C
应变诱导漏电流
2) stress induce leakage current
应力诱导漏电流
3) stress induced leakage current
应力诱生漏电流
1.
Generation mechanism of stress induced leakage currentin flash memory cell;
闪速存储器中应力诱生漏电流的产生机理
4) stress induced leakage current(SILC)
应力诱生漏电流(SILC)
补充资料：反向漏电流（inverseleakagecurrent）
反向漏电流（inverseleakagecurrent）
流过处于反向工作的pn结的微小电流称为反向漏电流。理想pn结反向漏电流中还包括体内扩散电流与空间电荷区产生电流两部分，硅pn结空间电荷区产生电流起支配作用。反向漏电流的大小与组成pn结的半导体材料禁带宽度呈指数关系，反向漏电流中还包括表面漏电流，表面漏电流的大小与pn结制作工艺密切相关。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条