1) F-N tunnel effect
F-N隧穿模型
2) Fowler-Nordheim(F-N) tunneling
FOWLER-NORDHEIM(F-N)隧穿
3) enhanced F-N tunneling
增强F-N隧穿
1.
A novel flash memory cell with stacked structure (Si substrate/SiGe quantum dots/tunneling oxide/poly-Si floating gate) is proposed and demonstrated to achieve enhanced F-N tunneling for both programming and erasing.
提出了一种用于半导体闪速存储器单元的新的Si/Si Ge量子点/隧穿氧化层/多晶硅栅多层结构,该结构可以实现增强F-N隧穿的编程和擦除机制。
4) F-N tunneling current
F-N隧穿电流
5) tunneling model
隧穿模型
6) fluorinated tunneling-oxide
F化隧穿氧化层
补充资料:隧穿效应
分子式:
CAS号:
性质:见隧道效应。
CAS号:
性质:见隧道效应。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条