1) Trigonometric projective measurement
三角投影测量法
2) third-angle projection
第三分角投影法
1.
The formation and characteristics of third-angle projection was introduced by taking some mechanical drawings as an example.
文中介绍了第三分角投影法的形成和投影特征,结合具体例子,重点分析了与我国采用的第一分角表达方法的异同。
3) third angle projection method
第三角投影 方法
4) third angle projection
第三角投影法
6) three-particle projective measurement
三粒子投影测量
1.
It is shown that,by this scheme,only one three-particle projective measurement and three classical bits are enough for such preparation.
提出了一个几率远程制备三粒子纠缠态的方案,在该方案中,三个非最大两粒子纠缠态被用作量子信道,并运用了三粒子投影测量,所需的经典资源是三个经典比特。
补充资料：长度测量工具：投影仪
利用光学投影系统把被测件放大后进行测量的长度测量工具。投影仪主要用於测量复杂形状工件﹐如成形刀具﹑样板﹑凸轮﹑仪錶零件﹑电子元件的轮廓形状和表面尺寸等。应用光切法(见表面粗糙度测量)测量的投影仪还可测量汽轮机叶片等的剖面几何形状。投影仪一般採用透射式光学投影系统﹐但也有带有反射式光学投影系统的(图1 光学投影系统 )。
前者主要用於测量薄工件的轮廓尺寸﹔后者主要用於测量工件端面上的形状和尺寸等。投影仪除了有光学投影系统外﹐还有类似工具显微镜那样的坐标工作台(简称工作台)。测量时﹐被测件放在工作台上﹐移动或转动工作台﹐使投影屏上的标线对準被测长度的起点或一边。从读数机构读出工作台的坐标位置﹐再移动或转动工作台﹐使标线对準被测长度的终点或另一边﹐然后读出工作台的坐标值。两次读数值之差就是被测长度的量值。测角时也常以转动投影屏来对準。在投影屏上还可绘出被测长度带有公差带的放大图形﹐以此与投影屏上实际被测长度的放大图形比较﹐检验其尺寸是否合格。此法可同时测量被测件上多个尺寸﹐效率较高。投影仪按物镜光轴方向可分为立式(图2 立式投影仪 )
和卧式两种。其放大倍数一般为10﹑20﹑50和100倍﹐也有200倍的。读数机构的分度值一般为0.01﹑0.005和0.001毫米。
前者主要用於测量薄工件的轮廓尺寸﹔后者主要用於测量工件端面上的形状和尺寸等。投影仪除了有光学投影系统外﹐还有类似工具显微镜那样的坐标工作台(简称工作台)。测量时﹐被测件放在工作台上﹐移动或转动工作台﹐使投影屏上的标线对準被测长度的起点或一边。从读数机构读出工作台的坐标位置﹐再移动或转动工作台﹐使标线对準被测长度的终点或另一边﹐然后读出工作台的坐标值。两次读数值之差就是被测长度的量值。测角时也常以转动投影屏来对準。在投影屏上还可绘出被测长度带有公差带的放大图形﹐以此与投影屏上实际被测长度的放大图形比较﹐检验其尺寸是否合格。此法可同时测量被测件上多个尺寸﹐效率较高。投影仪按物镜光轴方向可分为立式(图2 立式投影仪 )和卧式两种。其放大倍数一般为10﹑20﹑50和100倍﹐也有200倍的。读数机构的分度值一般为0.01﹑0.005和0.001毫米。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条