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1)  tree of style
树形扫描
2)  Scan tree
扫描树
1.
The extended compatibilities scan tree techniques can drastically reduce test application time and average power.
尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗,扫描输出的个数却大大增加。
2.
This paper proposes a novel test response compactor for extended compatibilities scan tree construction based on an XOR-network to reduce the test pins and test response data volume and overcome the error bits diffuse problem at the same time.
在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值,可以显著的减少测试应用时间,但是测试需要的引脚数和测试响应数据量增大。
3)  multiple scan tree
多扫描树
4)  sector scan
扇形扫描
1.
Antenna scan and its characteristic are introduced and the sector scan and conical scan are analyzed especially according to the characteristic of radar search and track.
介绍了雷达天线的扫描特点,根据雷达搜索和跟踪的特点对扇形扫描和圆锥扫描进行了重点分析;对使用的仿真工具Simulink进行了简要说明,并在此基础上详细讨论了天线扫描特性仿真中用到的Simulink模块,给出了具体的参数设置。
5)  Graph sweep
图形扫描
6)  ring scanning
环形扫描
1.
A new method of object dimension algorithm-ring scanning method(RSM) is proposed.
针对倾斜对称物体的宽度测量,提出了一种新的尺度测量算法——环形扫描法。
补充资料:扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)


扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe

扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
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参考词条