1) spatial-domain registration technique
空间平面校正技术
1.
A spatial-domain registration technique has also been incorporated to restore geometrically transformed mesh data.
提出了一种针对MPEG 4二维网格动画的强健数字水印系统的实现方法:首先利用多层解析分析将二维网格动画中的运动特征提取出来,再以扩频技术将水印信息分散到这些运动特征中,同时利用空间平面校正技术来解决几何转换所造成的网格位置偏移问题。
2) map migration
图面空间校正
3) spatial smoothing technique
空间平滑技术
1.
On the basis of spatial smoothing techniquet,he method of total least squares-estimating signal parameters via the rotational invariance technique is ameliorated.
为了研究智能天线系统中发射信号的到达定位问题,给出了一种基于空间平滑技术的算法,对总体最小二乘法——旋转不变技术的信号参数估计算法进行了改进。
4) space average technology
空间平均技术
5) correction technology
校正技术
1.
The paper looks back the history of thc developmcnt of flood forecast and summarizes the real-time correction technology as well as puts forward the prospect and idea of the future development of the flood forecast.
对实时校正技术进行了总结和综述。
2.
Sweeping nonlinearity correction technology for VCO is a key technique for high-precision and high-resolution LFMCW radars.
VCO扫频非线性校正技术是实现高精度及高分辨率线性调频连续波(LFMCW)雷达的关键技术之一。
3.
The harmonic pollution problem of power electronic devices becomes more and more serious,and power factor correction technology is the most effective method to solve this problem and the active power factor correction(APFC) technology has become the research focus owing to its unique advantages.
电力电子设备谐波污染问题越来越严重,功率因数校正技术是解决该问题的最有效方法,而有源功率因数校正(APFC)技术因其独特的优势成了该领域的研究重点。
6) space proofread
空间校正
1.
The error of the space orientation is caused by the less line of capillary array on space proofreading of capillary electrophoresis instrument.
在毛细管电泳仪空间校正时,毛细管阵列即使发生较小的倾斜都会引起毛细管阵列空间定位错误,为使这种倾斜角度可控,基于回归分析法,提出了毛细管阵列成像倾斜角度求解方法,着重介绍了该方法的原理和计算过程。
补充资料：长度计量技术：平面度测量
长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的﹐因此直线度测量中直尺法﹑光学準直法﹑光学自準直法﹑重力法等也适用於测量平面度误差。测量平面度时﹐先测出若干截面的直线度﹐再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行﹐图 用平晶测量平面得到的干涉条纹 
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条