2) total internal reflection prism
全内反射棱镜
3) reflection prism
反射棱镜
1.
Utilizing the characteristic of reflection prism in automatic polarization compensation in this test system, which realizes spacial veer transmission of polarization-light.
在该测试系统中利用全反射棱镜的偏振自补偿特性,实现了偏振光的空间转向传输。
4) reflecting prism
反射棱镜
1.
This paper presents a robot detection system,which consists of cleaning unit、driving unit、reflecting prism unit、CCD camera、image monitor、and computer etc.
该系统主要由清扫头、机器人驱动装置、反射棱镜、CCD像机、图像监视器和计算机等组成。
2.
In order to correct reasonably the image lean, the distortion caused by a reflecting prism with a second parallelism in a collimated beam and the image lean introduced by it were presented.
为合理地校正反射棱镜制造误差产生的像倾斜，文中讨论了棱镜存在第二光学平行度并处于平行光路中时所产生的畸变像差，以及由此畸变引起的像倾斜。
5) non-reflector total station
无反射棱镜全站仪
1.
A method of building oblique survey based on intelligent non-reflector total station;
基于无反射棱镜全站仪的建筑物倾斜测量
6) compound total internal reflection (TIR) prism
复式全内反射棱镜
1.
, the coaxis resonator with a compound total internal reflection (TIR) prism and a mirror, half o f which has reflectivity R and the other half has a high-reflection coating (R/HR mirror), and the folded resonator with a compound TIR prism, a normal triple prism and a R/HR mirro.
从对正三棱锥和其它偏振元件的分析出发，对板条固体激光器用两类新型棱镜腔，即共轴复式全内反射棱镜－半反／全反阴阳镜腔和复式全内反射校镜－正三棱锥－阴阳镜折迭腔的偏振特性作了详细的理论和实验研究。
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条