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1)  double-shearing interferometer
双剪切干涉仪
1.
In order to solve this problem, a basal principle of the white light lateral double-shearing interferometer is introduced firstly, and then measuring the semiconductor laser beam′s wavefront which is near the diffraction-limited by the interferometer is reported, and t he formula of calculating the beam′s divergence is deduced according to the Fra unhofer diffraction.
在星间半导体激光通信系统中,如何检测发射光束波面的质量是个较难处理的问题,为了较好地解决这一问题,在简单介绍白光横向双剪切干涉仪的基础上,报道了用此干涉仪对近衍射极限半导体激光光束波面的检测,在此基础上推导出计算远场发散度的公式。
2)  shearing interferometer
剪切干涉仪
1.
The triangular shearing interferometer,one of the most simple shearing interferometer,which has almost equal light distance,continuously adjustable shearing quality and two everlastingly parallel launching light beams,is described in the paper.
三平板剪切干涉仪是环路剪切干涉仪中最简单的一种 ,它具有基本等光程、剪切量连续可调、两出射光束恒相互平行等特点。
3)  Double-Shearing Interference Testing
双剪切干涉
1.
Considering the lab condition,we can also use Double-Shearing Interference Testing when the divergence is approaching the diffraction limit.
本文根据不同量级的发散度在研究了半导体激光器高斯光束理论的基础上研究了两种测量激光光束发散角大小的方法:焦斑法和双剪切干涉测量法。
4)  lateral shear interferometer
横向剪切干涉仪
1.
A Lateral Shear Interferometer (LSI) is used for the measurement of the phase distortion of a laser beam propagating through the atmosphere, and for the detection of branch points.
对横向剪切干涉仪(LSI)及Hartmann波前传感器的波前探测和复原进行了类比仿真分析,结果表明在同等条件下,前者的波前复原能力优于后者。
5)  radial shearing interferometer
径向剪切干涉仪
1.
The near-field reconstruction algorithm of the cyclic radial shearing interferometer and the amplitude modulation prosperity of Liquid crystal television(LCTV) is introduced.
从干涉图中提取出背景强度后,运用环路径向剪切干涉仪的近场重建迭代算法进行运算,得到了模拟光强的近场分布。
6)  reversal shear interferom eter
反转剪切干涉仪
补充资料:剪切干涉仪
      把通过被测件的波面用适当的光学系统分裂成两个,并使两波面彼此相互错开(剪切),在两波面重叠部分产生干涉图形的仪器。
  
  以常见的横向剪切干涉仪为例。如图所示,激光束被聚光镜1会聚到空间滤波器2上,滤波器置于被测物镜3的焦点上,从物镜出射的波面通过一稍有楔角的平板 4前后表面的反射,形成两个彼此横向错开的波面,在两波面重叠处形成干涉图形,通过判读条纹可评价被测物镜的传递函数。
  
  除横向剪切干涉仪外,如使两波面沿径向剪切即两波面尺寸不同形成干涉的称径向剪切干涉仪;如使两波面绕中心小量旋转而相互错开形成干涉的称旋转剪切干涉仪;如使两波面反向错开形成干涉的称反向剪切干涉仪。
  
  剪切干涉仪的优点是可省去标准的参考光学表面,结构简单稳定。其弱点是剪切后形成的干涉图形判读比较困难。剪切干涉仪主要用作测定光学零件的面型、光学系统的像差和光学传递函数、流场的均匀性等。对激光束的波面测量而言,剪切干涉仪是唯一可用的干涉形式。
  

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