1) bundary-scan cell
边界扫描单元
2) boundary scan
边界扫描
1.
An optimal FPGA test algorithm based on boundary scan architecture;
一种基于边界扫描的FPGA测试优化生成算法
2.
Design for testability of digital integrated circuits based on boundary scan technology;
基于边界扫描技术的集成电路可测性设计
3.
SRAM cluster of boundary scan interconnect testing at board level;
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
3) boundary-scan
边界扫描
1.
Information Compressing Algorithm in Boundary-Scan Test;
边界扫描测试信息压缩算法
2.
Design of boundary-scan circuit in RISC CPU;
RISC CPU的边界扫描电路设计与实现
3.
The design of a kind of boundary-scan tester based on virtual instrument technology;
基于虚拟仪器技术的边界扫描测试仪的设计
4) scan cell
扫描单元
1.
In the scan-based design-for-testability,LSSD is an effective and reliable scan cell for level sensitive design.
在扫描测试设计时,因电路行为的不同需采用不同的扫描单元,LSSD(level-sensitive scan design)正是一种非常适合于电平敏感型电路的扫描单元,但在时钟控制相对复杂的电路中仅采用标准LSSD单元来完成整个扫描测试设计是不够的。
6) JTAG boundary scan
JTAG边界扫描
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条