1) current ramp
电流扫描
1.
Voltage ramps (V-ramp) and current ramps (J-ramp) are used to evaluate gate oxide reliability.
18μm CMOS工艺栅氧的可靠性,获得击穿电压和击穿电量的两个常用方法是电压扫描法和电流扫描法。
2) sweep current
扫描电流
3) canning-beam current
扫描束电流
4) period of the scanning current
扫描电流周期
1.
In the system the period of the scanning current is completely synchronized by the major pulse of the modulator in order to avoid the beat.
系统的扫描电流周期和调制器的主脉冲同步，可消除扫描均匀性中出现的拍频现象。
5) current regulator tube scanning circuit
恒流管扫描电路
1.
Through introduction of improved cofficient and time error that is observed simultaneously the author makes an inductive reasoning of two similar formularies,which can be applied to current regulator tube scanning circuit.
引入了恒流管扫描电路在同一时刻的改进系数和时间误差 ,归纳了两个近似公式 ,对几种恒流管扫描电路的性能作了深入一步的研究 ,并且简化了对该电路的计
6) scanned beam current
扫描波束电流
补充资料：激光扫描微区光电流谱
分子式：
CAS号：
性质：通过激光光点在半导体电极表面作二维逐点扫描，记录扫描过程中各点光电流或光电压变化的技术。
CAS号：
性质：通过激光光点在半导体电极表面作二维逐点扫描，记录扫描过程中各点光电流或光电压变化的技术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条