2) strain distribution
应变分布
1.
Analysis on the strain distribution of carbon fiber in coherent length of member in bending;
受弯构件粘结长度内碳纤维应变分布的分析
2.
The strain distribution of low-dimensional semiconductor materials;
低维半导体材料应变分布
3.
The strain distribution and equilibrium morphology of Ge/Si semiconductor quantum dot;
Ge/Si半导体量子点的应变分布与平衡形态
5) strain rate distribution
应变率分布
6) strain variation diagram
应变分布图
补充资料：开关场分布
分子式：
CAS号：
性质：在饱和磁滞回线的微分曲线上，峰值一半处两点之间的宽度称半峰宽ΔH(见图)，半峰宽与内禀矫顽力之比称为开关场分布，其表达式为SFD=ΔH/MHc。该值描述磁滞回线在矫顽力附近的陡峭程度。对磁记录材料而言，其值越小，磁滞回线在Hc附近越陡峭，录放信号的灵敏度越高。
CAS号：
性质：在饱和磁滞回线的微分曲线上，峰值一半处两点之间的宽度称半峰宽ΔH(见图)，半峰宽与内禀矫顽力之比称为开关场分布，其表达式为SFD=ΔH/MHc。该值描述磁滞回线在矫顽力附近的陡峭程度。对磁记录材料而言，其值越小，磁滞回线在Hc附近越陡峭，录放信号的灵敏度越高。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条