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1)  incremental maintenance algorithm
增量维护算法
1.
Improved extensible markup language query incremental maintenance algorithm;
一种改进的可扩展标记语言查询增量维护算法
2)  incremental maintaining algorithm
增量式维护算法
1.
In order to mine fast and efficiently frequent closed itemsets according to insertion, deletion and modification of the database, this paper proposes an incremental maintaining algorithm U_CHARM based on CHARM algorithm.
为了能够随着数据库的增加、删除和修改而快速有效地挖掘出频繁闭项集,根据CHARM算法提出了一种基于频繁闭项集挖掘的增量式维护算法。
3)  incremental maintenance
增量维护
1.
IM-FPM:incremental maintenance algorithm for frequent pattern mining;
频繁模式增量维护算法IM-FPM
2.
Method of incremental maintenance of materialized views with aggregation
含聚集物化视图的增量维护方法
3.
In order to reduce the overhead of the network communication for maintaining the consistency between XML materialized views and their data source,a web-based incremental maintenance solution for XML materialized views is provided.
为了减少XML的物化视图与其数据源之间的一致性维护中所需的网络数据传输开销,提出了一种面向远程的XML物化视图增量维护的方法。
4)  maintenance algorithm
维护算法
1.
A maintenance algorithm of materialized view in data warehouse;
数据仓库中实体化视图的一种维护算法
2.
In this paper, one new maintenance algorithm is presented for the efficient maintenance problem of association rules.
该文提出一个新的维护算法,用来解决关联规则的更新维护问题。
5)  incremental maintaining
增量式维护
6)  Incremental algorithm
增量算法
1.
Study of Rough Set Theory Based Incremental Algorithms and Its Application;
基于粗糙集理论的增量算法的研究和应用
2.
This paper proposes an incremental algorithm for the new reduction model.
文章提出了一种在新的约简模型下增量算法,该算法能根据决策表新增样本与原有的最简规则集的关系,快速推出新决策表的满足平均决策强度条件的最简规则集。
3.
According to the character of entropy diversification in the fields of information theory,improves three theorem of incremental decision trees and proves the validity and reliability of the new algorithm in the base of the original ID3 and incremental algorithm.
在传统ID3决策树算法和原有增量算法的基础上,利用信息论中熵变原理的特点,对与增量决策树算法相关的三个定理进行相应的改进,在理论上证明了改进的增量决策树算法的有效性和可靠性。
补充资料:X射线荧光增量法
分子式:
CAS号:

性质:又称标准(溶液)加入法。X射线荧光分析试样中待测元素含量低于5%~10%时所用的一种定方法。其方法与原子发射光谱增量法操作相同,仅所加入待测元素的含量应比试样含量增大1至3倍。以加入量为横坐标,荧光强度为纵坐标绘制校准曲线。

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参考词条