说明:双击或选中下面任意单词,将显示该词的音标、读音、翻译等;选中中文或多个词,将显示翻译。
您的位置:首页 -> 词典 -> 电路演化设计
1)  evolutionary design of circuits
电路演化设计
2)  evolutionary design
演化设计
1.
A new methodology of representation and acquisition of product gene was proposed for the most important problem of product evolutionary design.
结合遗传算法,能够实现自动化方案演化设计,从功能、原理和结构等多方面多层次优化设计方案,提高产品方案设计创新性。
3)  evolving design
演化设计
1.
For manipulators with interval uncertain parameters,evolving design methods of robust controllers are proposed based on the genetic algorithm.
对于存在参数区间摄动的机械臂,提出了一种利用遗传算法进行鲁棒控制器演化设计的方法。
4)  evolution design
演化设计
1.
The paper has described and compared RC5 and RC6 and analyzed the process of evolution design from RC5 to RC6.
对RC5和RC6进行详细的比较和分析,讨论从RC5到RC6的演化设计过程,在此基础上,通过算法仿真实验,给出各自在性能上的优缺点。
2.
Rely on the progress of “system science”“non-linear science” and “complex science”, at the basis of dissecting the blind area of traditional design for bulk material machinery,with researching & developing physical contain of turn-back-point at the core,as a means of evolution design,the writer of this paper had done the innovation practice and many achievements have been obtained by him.
依托“系统科学”“非线性科学”和“复杂性科学”的进展,在剖析散体机械传统设计的盲区的基础上,从开发折反点的物理涵义为核心,以演化设计为手段,进行创新实践, 获得了一批成果。
5)  evolved circuit
演化电路
6)  electronic circuit design automation
电路设计自动化
补充资料:集成电路版图设计规则
      集成电路版图设计规则的作用是保证电路性能,易于在工艺中实现,并能取得较高的成品率。版图设计规则通常包括两个主要方面:①规定图形和图形间距的最小容许尺寸;②规定各分版间的最大允许套刻偏差。
  
  集成电路制作中,各类集成元件、器件及其间的隔离与互连等是在一套掩模版的控制下形成的。一套掩模版通常包括 4~10块分版。每一块分版是一组专门设计的图形的集合,整套版中的各分版相互都要能精密地配合和对准。整套掩模版图形(简称版图)的设计,是把电路的元件、器件和互连线图形化,用它来控制制备工艺,使集成电路获得预期的性能、功能和效果。例如,增强型负载硅栅N沟道MOS型集成电路需要4块分版,分别用以确定有源区、多晶硅、接触孔和铝连线。4组图形的规则是:
    有源区条宽与间距
  
  
  
   6μm/6μm
    多晶硅条宽与间距
  
  
  
   8μm/6μm
    接触孔尺寸
  
  
  
  
    6μm×6μm
    铝连线条宽与间距
  
  
  
   6μm/6μm
    多晶硅-有源区套刻量(ɑ)
  
    2μm
    多晶硅出头长度(b)
  
  
  
  4μm
    接触孔-有源区套刻量(c)
  
    2μm
    接触孔-有源区上多晶硅套刻量(d)  4μm
    接触孔-隔离区上多晶硅套刻量(e)  2μm
    铝连线-接触孔套刻量(f)
  
    2μm
  
  
  不同类型的集成电路所需要的分版数不同,具体的版图设计规则也有差异。但制定版图设计规则的基本原则则是一致的:①需要考虑工艺设备状况(如光刻机的分辨率和对准精度)和工艺技术水平(如工艺加工中,图形尺寸侧向变化量和控制);②避免寄生效应对集成电路的功能与电学性能的有害影响。
  
  通常称允许的最小图形尺寸的平均值为特征尺寸。它是对集成电路集成密度的度量,是集成电路工艺技术水平的一种标志。
  

说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条