1) PCM test chip
PCM测试图形
1.
The causes of the abnormal phenomenon in the low-voltage power amplifier IC are determined and the conclusion is confirmed by testing the PCM test chip.
在分析某低压功放集成电路功能原理的基础上,针对该电路成品测试中出现的特性异常现象,结合原理分析,采用模拟仿真的方法,分析、再现异常现象,确定了导致特性异常的原因,并通过对PCM测试图形的测试,验证了分析结论。
2) PCM tester
PCM测试机
3) PCM line test
PCM线路测试
1.
703 E1 transmit line, we designed a PCM line test device which is controlled by microprocessor 89S52,by using the functions of MT9075 chip such as line alarm, PCM line transmit, CAS and CCS.
703E1传输线路的检测与维护,利用MT9075芯片的失步告警、PCM传输、CAS、CCS信令处理等功能,设计了由89S52单片机控制的PCM线路测试仪。
4) test pattern
测试图形
1.
SMU σ LET curves of different test patterns 5A, FF and 00 are presented and the effects of LET on the results are analyzed.
HI 13串列加速器提供的F、Cl及Br离子轰击样品时 ,采用网络控制的 6116 62 85 12全系列SRAM单粒子效应测试系统进行动态检测 ,得到了两种器件的单粒子翻转 (SEU )以及SMU的σ LET曲线 ,分析了LET值以及测试图形对截面的影响。
2.
How to generate CPU test pattern efficiently is a big problem to people who write test programs.
如何科学有效地生成CPU测试图形,是困扰测试程序开发人员的一个难题。
5) HDI designed test coupon
HDI测试图形
6) deterministic test pattern
确定性测试图形
1.
The principle of the proposed technique is firstly to utilize automatic test pattern generator tools to generate deterministic test patterns with short length and high fault coverage, then the generated patterns are sorted to get low power test sequence, and finally the BIST circuit description is automatically generated by selecting finite state machine optimiz.
先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述。
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条