1) IC defect outline
IC缺陷轮廓
2) defect profile
缺陷轮廓
3) IC's defects
IC缺陷
4) Icdefect
IC芯片缺陷
5) IC defect detection
IC缺陷检测
6) concave contours
凹陷轮廓
1.
The problem of dismatching concave contours in traditional active contour model is studied,with an analysis of both internal and external energy.
针对传统主动轮廓模型不能有效拟合凹陷轮廓的问题进行研究,从内部、外部能量两方面进行分析。
补充资料：点缺陷(见晶体缺陷)
点缺陷(见晶体缺陷)
point defect
点缺陷point defeet见晶体缺陷。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条