1) Object surface emissivity
物体表面发射率
4) surface emitting rate
表面发射
1.
The article introduces an amplifier circuit designed for measuring the surface emitting rate of plate sources with 2πmulti-wire proportional counter.
本文介绍的放大电路用于测量平面放射源表面发射率的2π多丝正比计数器。
5) surface plasmon-coupled emission
表面等离子体耦合发射
补充资料:单色发射率
分子式:
CAS号:
性质:物体的辐射能力与同温度下黑体的辐射能力之比称为该物体的发射率或黑度。对所有波长的辐射的发射率称为全发射率或简称为发射率;对某一特定波长的辐射的发射率则称为单色发射率。理想灰体的单色发射率与全发射率相同,但实际物体的单色发射率与全发射率往往有很大差别。例如氧化铝波长为8μm的单色发射率为0.97,而其全发射率为0.2~0.3。
CAS号:
性质:物体的辐射能力与同温度下黑体的辐射能力之比称为该物体的发射率或黑度。对所有波长的辐射的发射率称为全发射率或简称为发射率;对某一特定波长的辐射的发射率则称为单色发射率。理想灰体的单色发射率与全发射率相同,但实际物体的单色发射率与全发射率往往有很大差别。例如氧化铝波长为8μm的单色发射率为0.97,而其全发射率为0.2~0.3。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条