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1)  wide-angle array
宽点阵列
2)  wideband array
宽带阵列
3)  UWB array
超宽带阵列
4)  matrix dot
阵列码点
1.
Recognization of matrix dots on poor quality films using traditional threshold method brings dots misread.
 对电影经纬仪和高速摄影机所拍摄胶片的阵列码点分布形式进行了分析,建立了基于点间描述和点描述的模型。
5)  lattice array
点阵列
1.
This technique of lattice array manifestation control applies to industry control,the appliance products and advertisement designs extensively.
点阵列显示控制技术在工业控制、家电产品和广告设计中应用广泛。
6)  spot arrays
光点列阵
1.
A kind of phase computer generated grating with non equal distance spot arrays was designed and fabricated according to the needs of the window distribution of the FET SEED smart pixel device in optical switching network.
根据光交换网络中光逻辑FET-SEED灵巧像元器件光窗分布的要求,设计制作了一种具有非等间距光点列阵的位相计算全息光栅,采用波长为0。
补充资料:点阵平面指数和点阵方向指数
      在金属学问题中,往往需要涉及点阵中某个晶面和晶向。晶体的晶面和晶向,可用密勒指数(Miller in-dices)的规定符号来表示。取平行于晶胞边棱的三个轴x,y,z,每根轴分为长度与晶胞边长(a,b,c)相等的等分,沿各轴的距离就用这些边长的倍数来表示。当标志一个晶面时,先确定此平面在三根轴上的截距,然后取截距的倒数并通分,即化为同分母的分数。截距的倒数便成为 h/n,k/n,l/n 的形式,这里 h,k,l是整数,n是公分母,把整数h,k,l括入一个圆括号内,就得到了晶面的密勒指数(h k l),简称晶面指数。图1所示晶面在x,y,z三根轴的截距相应为2,3,1,OP=2,OQ=3,OR=1,倒数各为1/2,1/3,1,公分母为6,因此截距的倒数可写为3/6,2/6,6/6。(3 2 6)即用来表示这个晶面。由此得出的这些指数只说明关于晶面的几何关系,而对原子在晶面上的分布或类型并未涉及。另一方面,一组密勒指数,例如(3 2 6),不仅描述一个晶面,而且描述所有与之平行的晶面。例如截距为4、6和2的平面必定和图1所示平面平行,并可证明其密勒指数也是(3 2 6)。
  
  图2示出立方晶系的一些重要晶面。其中指数为 0表示平行于某一晶轴的晶面,与该轴相交于无限远;而一个晶面与晶轴交于负向时,则在指数上方画一短横线表示。对于晶体学相同而只是取向不同的一族晶面,用另一种括号,如{100}表示所有的立方体面,包括(100),(ī00),(010),(0ī0),(001)和(00ī)各晶面。
  
  点阵的晶向用方括号表示。标定时,先通过原点沿此方向作一直线,然后根据晶胞边长确定此直线上一点的坐标,如x=a,y=-2b,z=c/3。晶向指数就是和这些坐标成正比的最小整数〔3宮1〕。在立方晶系中晶向总是和具有相同指数的晶面相垂直,如〔111〕垂直于(111),等同的晶向族,如〔100〕,〔010〕,〔001〕,〔ī00〕,〔0ī0〕和〔00ī〕用<100>表示。
  
  六方晶系中除密勒指数外,往往使用另一种密勒-布喇菲法。六方对称性要求四个坐标轴(图3),三根轴x、y、u在底面上,并沿密排方向互呈120°夹角,第四根轴则垂直于底面。箭头指向为轴的正方向,按x、y、u、z 顺序测出晶面在这四个轴上的截距,可定出其密勒-布喇菲指数为(hkil),而且i=-(h+k),或h+k+i=0。图4示出六方晶系的一些重要晶面。容易证明,(10ī0)面就是密勒指数表示的(100)面。六方晶系的晶向同样可用三指数密勒系(图4)或四指数密勒-布喇菲系表示。
  

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参考词条