1) test waveform generation
测试波形生成
1.
Based on this model, we develop the test waveform generation algorithms for the complementary CMOS logic and the pass transistor logic.
文中分析了多输入同时翻转对最大门延时的影响,提出了一种可以用于测试波形生成的多输入同时翻转模型。
3) waveform testing
波形测试
1.
Expatiates the waveform testing methods and analyzes the waveform measured practically.
以单片开关电源的典型电路为例,详细阐述其波形测试方法并对实测波形作了深入分析,重点研究了单片开关电源的启动特性、一次侧和二次侧的电压波形及电流波形。
4) test waveform
测试波形
1.
Detailed introduction is given about the main parameters and the test waveforms of 1 100 A/4 500 V RC_IGCT assembly samples manufactured by us newly.
介绍了新研制成功的1100A/4500V逆导型IGCT的主要参数和测试波形。
5) test generation
测试生成
1.
The research of multi - fault test generation for combinational logic circuits;
组合逻辑电路多故障测试生成算法的研究
2.
Binary decision diagram method for test generation of digital circuits;
数字电路测试生成的二元判定图方法
3.
Neural networks based test generation algorithm for combinational logic circuits;
基于神经网络的组合电路测试生成算法
6) testing generation
测试生成
1.
A path delay fault testing generation algorithm for digital circuits based on neural network is proposed because the testing generation for path delay fault in digital circuits is more difficult.
针对数字电路路径时滞故障测试生成较难的问题,提出了基于神经网络的数字电路路径时滞故障测试生成算法。
2.
A path delay fault testing generation algorithm based on Boolean difference for digital circuits is proposed because the testing generation for path delay fault in digital circuits is more difficult.
针对数字电路路径时滞故障测试生成较难的问题提出了一种基于布尔差分的数字电路路径时滞故障测试生成算法。
3.
In order to obtain better failure coverage and testing set of digital circuit and reduce the reverse backtracking,many bionics algorithms are applied to testing generation of circuit.
数字集成电路的快速发展对电路测试提出了日益紧迫的要求,为获得较好的数字电路的故障覆盖率和测试集,减少反向回溯,很多仿生学算法应用到了电路的测试生成当中,现介绍了在测试生成领域中有重大影响的几种仿生优化算法以及各自特点。
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条