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1)  directional planar pattern
方向性平面靶标
1.
A novel whole-profile metrology system is designed with simple structure,only including one single vision sensor and one directional planar pattern.
设计了一种新型三维全貌测量系统,系统结构简单,仅由单传感器系统和方向性平面靶标组成。
2)  directional pattern
方向性靶标
1.
In this paper,a novel directional pattern is designed.
区别于现有方向性靶标,该靶标仅由简单的圆组成,因此,设计和加工简单。
3)  planar target
平面靶标
1.
Multi-view point clouds registration method based on planar target;
基于平面靶标的多视点云对齐方法
2.
On-spot camera calibration method based on flexible planar target
基于柔性平面靶标的摄像机现场标定方法
3.
The perspective projection model of theodolite is established, and a 3D data registration method which takes a planar target as intermediary coordinate frame and single theodolite as global coordinate frame is proposed for the problem of data registration in 3D vision measurement for large free surface.
本文针对大型自由曲面三维视觉测量中的数据拼接问题,建立了经纬仪透视投影模型,提出了以平面靶标为中介坐标系,以经纬仪坐标系为全局坐标系的三维数据拼接方法。
4)  planar pattern
平面靶标
1.
A novel calibration method to determine all the primitive parameters of the stereo visual sensor with free-position planar pattern is proposed.
提出一种基于任意位姿平面靶标的立体视觉传感器标定新方法。
5)  Planar calibration target
平面标靶
6)  Plane directionality
平面方向性
补充资料:点阵平面指数和点阵方向指数
      在金属学问题中,往往需要涉及点阵中某个晶面和晶向。晶体的晶面和晶向,可用密勒指数(Miller in-dices)的规定符号来表示。取平行于晶胞边棱的三个轴x,y,z,每根轴分为长度与晶胞边长(a,b,c)相等的等分,沿各轴的距离就用这些边长的倍数来表示。当标志一个晶面时,先确定此平面在三根轴上的截距,然后取截距的倒数并通分,即化为同分母的分数。截距的倒数便成为 h/n,k/n,l/n 的形式,这里 h,k,l是整数,n是公分母,把整数h,k,l括入一个圆括号内,就得到了晶面的密勒指数(h k l),简称晶面指数。图1所示晶面在x,y,z三根轴的截距相应为2,3,1,OP=2,OQ=3,OR=1,倒数各为1/2,1/3,1,公分母为6,因此截距的倒数可写为3/6,2/6,6/6。(3 2 6)即用来表示这个晶面。由此得出的这些指数只说明关于晶面的几何关系,而对原子在晶面上的分布或类型并未涉及。另一方面,一组密勒指数,例如(3 2 6),不仅描述一个晶面,而且描述所有与之平行的晶面。例如截距为4、6和2的平面必定和图1所示平面平行,并可证明其密勒指数也是(3 2 6)。
  
  图2示出立方晶系的一些重要晶面。其中指数为 0表示平行于某一晶轴的晶面,与该轴相交于无限远;而一个晶面与晶轴交于负向时,则在指数上方画一短横线表示。对于晶体学相同而只是取向不同的一族晶面,用另一种括号,如{100}表示所有的立方体面,包括(100),(ī00),(010),(0ī0),(001)和(00ī)各晶面。
  
  点阵的晶向用方括号表示。标定时,先通过原点沿此方向作一直线,然后根据晶胞边长确定此直线上一点的坐标,如x=a,y=-2b,z=c/3。晶向指数就是和这些坐标成正比的最小整数〔3宮1〕。在立方晶系中晶向总是和具有相同指数的晶面相垂直,如〔111〕垂直于(111),等同的晶向族,如〔100〕,〔010〕,〔001〕,〔ī00〕,〔0ī0〕和〔00ī〕用<100>表示。
  
  六方晶系中除密勒指数外,往往使用另一种密勒-布喇菲法。六方对称性要求四个坐标轴(图3),三根轴x、y、u在底面上,并沿密排方向互呈120°夹角,第四根轴则垂直于底面。箭头指向为轴的正方向,按x、y、u、z 顺序测出晶面在这四个轴上的截距,可定出其密勒-布喇菲指数为(hkil),而且i=-(h+k),或h+k+i=0。图4示出六方晶系的一些重要晶面。容易证明,(10ī0)面就是密勒指数表示的(100)面。六方晶系的晶向同样可用三指数密勒系(图4)或四指数密勒-布喇菲系表示。
  

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