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1)  mobility enhancement
迁移率增强
1.
At room temperature,the strained-Si n-MOS- FETs show a significant mobility enhancement of~87% over S.
在室温下,相对于体硅器件,应变硅器件表现出约87%的低场电子有效迁移率增强,在相同的过驱动电压下,饱和漏端电流增强约72%。
2)  hole mobility enhancement
空穴迁移率增强
3)  mobility enhancement
迁移率增加
4)  enhancement PHEMT
增强型赝配高电子迁移率晶体管
1.
5μm enhancement PHEMT technology.
报道了一种用于卫星通讯系统,基于0·5μm栅长增强型赝配高电子迁移率晶体管的两级级联微波单片低噪声放大器。
5)  migratory growth
迁移增长
6)  transport intensity
迁移强度
补充资料:迁移增强外延


迁移增强外延
migration enhaneed ePitaxy

、代产护尸沪,卜~,迁移增强外延migration enhaneed即itaxy一种改进的分子束外延技术。简称MEE。1986年由日本的科学家首次提出。 随着微电子领域研究的不断深入,用常规分子束外延(MBE)研制的器件存在两个缺点:①由于大量的原子台阶造成原子级粗糙度,使外延材料界面平整度差,易导致器件特性恶化;②MBE的衬底温度偏高(500一600℃),使杂质原子易在体内扩散,难以实现陡峭的界面杂质分布。问题是MBE的GaAs生长是在一个稳定的As压条件下进行,迁移到生长面的Ga原子立刻与As反应形成GaAs小岛,这些小岛与As之间稳定的化学键使表面吸附原子的迁移过慢,且岛上的As要再蒸发必须提高衬底温度。 MEE新技术是在沉积Ga的过程中中断As的供给,这时在底层As的表面上不形成GaAs岛,加快了Ga原子在As表面的迁移。在元素渗流箱上各装一个快门,Ga和As原子交替输送到衬底上,Ga原子迅速迁移到无As的表面。迁移和生长由反射高能电子衍射仪(RHEED)监控。通过RHEED衍射强度振荡谱,可观察到常规MBE在20周期后振荡完全消失,而MEE则由于有良好表面原子级平整性,在经历上千周期振荡后,振荡仍可连续进行。 已使用MEE法在200℃生长含有4000个单原子层的GaAs。测定4 .ZK光致发光特性,表明晶体质量良好仁300℃时生长AIAs一GaAs量子阱,在半绝缘的GaAs衬底上先外延500 nm缓冲层后,再生长50nmAIAs隔开的含22个单层的GaAs双量子阱。测试结果表明,A卫As层具有高质量。MEE法也可应用于选择外延,为实现GaAs/Si单片集成,在具有薄5102掩膜图形的Si衬底上选择生长GaAs。虽然MEE法起步较晚,但已可预测到在微结构材料研制方面有着良好的应用前景。(莫金现)
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参考词条