1) leaf area determination
叶面积检测
5) Calibration surface source
大面积检测源
补充资料:受光叶面积指数测定
受光叶面积指数测定
determination of lighted leaf area index
shouguang yem一anji zhishu eeding受光叶面积指数测定(determination oflighted leaf area index)生长状况观测项目之一,是对受到太阳直接辐射照射的叶面积(用叶面积指数来表示)的侧定(见叶面积测定)。测定目的在于鉴定光能在作物群体中分布的合理性和有效性;预测其对产量的影响。测定时首先分层测定受光面积率。一般采用棒测法,即用一根110厘米长的木尺,其上每隔1厘米点一红油漆点(共100个点),将它水平放置在欲测的层次高度上,与作物行间垂直,并固定在支架上,随后数它被阳光直接照射的亮点(红漆点)数。在同一高度上,用同样的方法,每间隔10厘米左右移动测尺一次,共测十次,算出总亮点数,然后除以1000,便求得该层受光面积率(百分率)。中国已研制出直射透光率测定仪,其棒状感应器为1米长,由100个感应器件组成,用它在作物群体内进行快速扫描,直射光透光率由数码直接显示。作物冠层的垂直分层,对于矮秆密植作物(如稻、麦),一般从地面向上每10厘米为一层,而稀植高秆作物(如玉米),一般每20一30厘米为一层。测定时,按照划分好的垂直层次标志,由上向下逐层分别测得各层的受光面积率。其次,分别测出各垂直层次间的叶面积密度(见叶面积密度测定)。最后,求算群体受光叶面积指数。某层叶面积密度乘以该层的受光面积率就是该层的受光叶面积指数。(林家栋)
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参考词条