1) Risk Coefficient of Radiation Induced Cancer
辐射致癌危险系数
2) radiation carcinogenesis
辐射致癌
1.
Application of DNA chip and nuclear technology to study on molecular mechanism of radiation carcinogenesis;
应用DNA芯片技术结合核技术对辐射致癌分子机制的研究
2.
It s meaningful to clone the full length of novel gene related to the radiation carcinogenesis,and also important to study the molecular mechanism of cell differentiation,regeneration and cancerization from the gene level.
背景与目的:辐射诱导细胞恶性转化过程中涉及到众多基因,其中包括大量未知的新基因,克隆新的辐射诱导相关全长基因,从基因水平认识细胞恶性转化过程中生长、分化、再生和癌变的分子机理,对于研究辐射致癌的发生、发展规律具有重要意义。
3.
To elucidate the mechanism of radiation carcinogenesis will help us to effective prevention and better treatment for carcinomas.
国内外对于辐射致癌开展了一系列的研究，认识到辐射致癌是电离辐射远后效应的重要损伤形式，但是对于辐射致癌机理，目前尚缺少令人信服的共识。
3) carcinogenic risk
致癌危险性
4) radiological risk
辐射危险
1.
Considering many influencing factors and the indetermination of coefficients,it's inconvenient to calculate the radiological risk of DU(depleted uranium) with PLEIADES(Program for Linear Age-dependent Dosimetry).
针对线性年龄相关剂量学程序PLEIADES(Program for Linear Age-dependent Dosimetry)计算贫铀辐射危险存在的影响因素较多、系数不确定性大、使用不便的问题,基于ICRP生物动力学模型,采用美国原子管理委员会编制的放射性物质工具箱中提供的典型条件下铀的各同位素剂量转换系数,分析了不同背景下剂量的影响因素,给出了贫铀的辐射危险概率的简化计算方法,并同PLEIADES的结果相比较。
5) radiation-induced carcinogenesis
辐射击致癌
6) radiation danger zone
辐射危险区
补充资料：电离辐射衰减系数
电离辐射衰减系数
ionizing radiation attenuation coefficient
式中/0为没有防护层(d=0)时的电离辐射强度;I是防护层厚度为d时的电离辐射强度;刀为电离辐射衰减系数。如果d以线性厚度厘米为单位，则召以厘米一’表示。 刀是物质防护能力的度量。召值的大小取决于防护层物质的特性和电离辐射的能量。物质的月值越大，防护性能越好。物质的防护性能常用衰减倍数K表示。衰减倍数是屏蔽前的剂量D。与屏蔽后的剂量D之比，K二D0/D。将单向粒子流的辐射量减少到初始值一半时的减弱层厚度，称为半厚度，亦称半值厚度或半值层，记作心:。dlZ=住693/拜(厘米)。某些物质对早期核辐射Y射线和中子流的半厚度如表所示。 几种物质的半厚度单位:厘米卜洲扭 已知防护层厚度d和半厚度叭2，可计算其衰减倍数K: K=2脚rtllZ=2”式中n为防护层物质的半厚度数，n=d/试2。反之，为获得预定的衰减倍数K，可按公式n一InK/0.693来计算半厚度数n。根据防护层厚度斌半厚度峨:、衰减倍数K及通过防护之前的剂量D。可计算出工事内核辐射剂量D: D=几(l/酬=几K一‘ (陈冬英)dionli fushe shuaiiian xishu电离辐射衰减系数(ionizing radiationattenuation coefficient)电离辐射通过介质时强度相对变化的表征量。军事上常见的日粒子、Y光子之类的电离辐射通过物质时，它的强度近似按指数规律衰减: I=去e一召d
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参考词条