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1)  lineshape of x-ray diffraction peak
X射线衍射峰线型
2)  the widening of the peaks of X-ray diffraction
X射线衍射峰宽化
1.
The method of approximate function has been applied to analyzing the widening of the peaks of X-ray diffraction caused by decreasing the size of subgrains and increasing of lattice distortion.
结果表明,近似函数法是一种简便有效的分析铜合金X射线衍射峰宽化的方法之一,而合金元素Ag和Sn等对铜合金性能的影响与其X射线衍射峰的物理定化有明显的对应关系。
3)  X-ray diffraction peak intensity
X-射线衍射峰强度
4)  x ray diffraction
x线衍射
5)  X-rays diffraction
X射线衍
6)  X-ray diffraction
X射线衍射
1.
Theoretical derivation of the shape of X-ray diffraction line;
晶体X射线衍射线形状的理论推导
2.
Whole pattern simulation of powder X-ray diffraction and related quantitative analysis methods without strcture refinement;
不涉及结构的多晶X射线衍射全谱拟合及相关定量分析方法
3.
The peak shape of the X-ray diffraction effected by the absorption of crystal;
晶体吸收对X射线衍射峰形状的影响
补充资料:X射线粉末衍射法
分子式:
CAS号:

性质:在X射线衍射分析中,采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末,也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度,可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。

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