1) optical level detection method
光学偏转法
1.
An atomic force microscope based on the optical level detection method hasbeen developed and atomic resolution is achieved.
研制成功了一台使用光学偏转法检测的原子力显微镜，通过对云母、光栅、光盘等样品的观测证明仪器达到原子分辨率，最大扫描范围可达７μｍ×７μｍ。
2) Optical beam deflection technique
光偏转法
3) optical deflection
光偏转;光学偏移
4) Optic deflection ultra microforce detecting
光学偏转超微力检测法
5) Photothermal deflection method
光热偏转法
6) light beam deflection
光束偏转法
1.
In order to know the stress development in the film during growth and to study the origin and mechanism of the stress much deeply, an instrument based on light beam deflection for in-situ stress measurement in optical films by using two light beams is presented.
为了在薄膜形成期间跟踪生长表面应力水平的演变,更加深入地探究薄膜应力的产生机理,基于光束偏转法,搭建了利用双光束照射在镀膜基底表面的实时测量光学薄膜应力的装置。
补充资料：激光光热偏转光谱法
分子式：
CAS号：
性质： 是基于20世纪80年代发现的光热偏转效应而建立的一种光热光谱技术。所依据原理是待测物质的光热效应引起的介质折射指数的变化，探测折射率的变化梯度进行分析。是高灵敏、非破坏性检测微弱吸收的手段之一，检测限可达1.0×10-11mol/L；与色谱技术联用，检测限可近pg级。其检测方式分为共线式和横向式；光学构型有腔内调谐和腔外调谐两种，一般前者的灵敏度高于后者。为提高灵敏度，许多光学技术如阿达马变换、时间分辨技术等已被应用到激光光热偏转光谱中。
CAS号：
性质： 是基于20世纪80年代发现的光热偏转效应而建立的一种光热光谱技术。所依据原理是待测物质的光热效应引起的介质折射指数的变化，探测折射率的变化梯度进行分析。是高灵敏、非破坏性检测微弱吸收的手段之一，检测限可达1.0×10-11mol/L；与色谱技术联用，检测限可近pg级。其检测方式分为共线式和横向式；光学构型有腔内调谐和腔外调谐两种，一般前者的灵敏度高于后者。为提高灵敏度，许多光学技术如阿达马变换、时间分辨技术等已被应用到激光光热偏转光谱中。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条