1) unit interval graph
单位区间图
1.
This paper shows that a unit interval graph with at least 4 vertices is pan-connected if and only if it is 3-connected.
证明了顶点数至少是4的单位区间图是泛连通的当且仅当它是3-连通的。
2.
A new characterization of unit interval graphs is put forth in this paper.
给出单位区间图的一种新的刻划。
3.
The IM-extendability of unit interval graphs and cyclic graphs C2n (1, m).
本文研究了图论中与图的导出匹配可扩性有关的一些问题，由以下两部分组成： ⅰ局部同构的连通的5-正则无爪导出匹配可扩图的刻划 ⅱ单位区间图与循环图C_(2n)(1，m)的导出匹配可扩性 1 局部同构的连通的5-正则无爪导出匹配可扩图的刻划 对边集M(?)E(G)，如果G的任意顶点至多与M中的一条边关联，则称M是G的匹配。
3) R0 unit interval
R0单位区间
1.
In this paper,a logical metric ρ on R0 unit interval is proposed,and [0,1](,ρ) becomes a metric space(It is called(R0 unit) logical metric space).
在R0单位区间[0,1]上引入了一个逻辑度量ρ,从而([0,1],ρ)成为一个度量空间(本文中称"(R0单位)逻辑度量空间"),并对逻辑度量空间的结构及其性质进行了详尽的讨论,结果表明a∈(0,1),{a}即开又闭,而{0},{1}是闭集,但不是开集。
4) G unit interval
G单位区间
1.
The logical metric structure on G unit interval;
G单位区间上的逻辑度量结构
5) .R_0-unite interral W
R_0-单位区间
6) LF identity interval
LF单位区间
1.
A note on the connectivity of LF identity intervals;
关于LF单位区间的连通性的一点注记
补充资料：单位缺陷数控制图(u图)
单位缺陷数控制图(u图)
control charts for defects per unit
dan叭旧1 quexianshuko叩zhitu单位缺陷数控制图(u圈)eont拍1 ehad3forper unit)利用样本中单位产品的一定类型缺陷数，评估和监察过程的控制图。“图与缺陷数(c)控制图的关系和p图与严图的关系相似。若各个祥本的检查单位，即样本大小是变化的，则应将各个样本的缺陷数折算成平均每个检查单位的缺陷数，简称单位缺陷数，然后应用单位缺陷数(u)控制图进行控制。样本单位缺陷数(。)的参数为:产。二U，。。二丫丽石，式中u为总体或过程的平均单位缺陷数。可见沼。与。。是相关的，确定其中的一个就等于确定另一个，故只有一个独立的参数，即总体平均单位缺陷数。因此，控制单位缺陷数(u)仅一张控制图就足够了。 。图的控制界限也是从休哈特的3。方式，即休哈特拉制图控制界限的总公式导出的，具体如下: UCL二U+3j厂百瓜二‘+3了玉7石 CL二U。瓦 】￡L二u一3、/一石7又。面一3了玉了五式中:UCL为上控制限;LCL为下控制限;CL为中心线;‘为样本平均单位缺陷数，用以估计总体单位缺陷数。由于“图的UCL与LCL中包含有样本大小n，故若。不等，则UCL与LCL均呈凹凸状，作图不便，也难于判稳、判异。如果应用通用控制图，则无论检查单位有无改变，。T图均可用，很方便。下图是一个实例的单位不合格数(的图与通用缺陷数(。T)图的对比。汉UCL一决.CLLCL几…00…0产芯六气犷茹瑟喻犷亢，硫 eT图“图与。T图的对比r孙棒、
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条