1) System and Circuit
系统与电路
2) circuits and systems
电路与系统
1.
Introducing node tearing into signal flow graph method enables it to analyse larger circuits and systems and therefore extends its special functions in symbolic analyses and its application field.
两者有机的结合,使信号流图法能分析规模较大的电路与系统,进一步扩大了信号流图进行符号分析的独特功能和应用范围,并提高了分析速度。
4) integrate system on circuit and antenna
一体化电路与天线系统
5) Circuit System
电路系统
1.
The identification of parameters in circuit system andits treatment method;
电路系统的参数识别问题及其处理方法
2.
Principle and circuit system design of CPT atomic clock
CPT原子钟的原理及其电路系统框架设计
3.
After the circuit system having been predigested and split,based on the simulation models,the states of the execute-components are confirmed through qualitative simulation.
针对电路系统的特点,提出一种基于定性仿真和功能推理的故障诊断方法。
6) electrical circuitry
电路(图)，电路系统
补充资料：集成电路测试系统
集成电路测试系统
integrated circuit test system
某·343·集(ATE)产业。IC测试系统的基本功能是检测被测器件(DUI、)的工作特性是否符合器件生产厂家给定的特性要求。系统按其测试的对象不同，大体分为数字IC测试系统、模拟IC测试系统和数模混合信号IC测试系统。 数宇lC侧试系统根据应用领域的不同，可分为通用IC测试系统、IC验证系统和验证测试系统。 对通用IC测试系统的要求是测试的通用性、技术指标的综合性。IC验证系统是一种对少量试制样品进行功能验证的测试设备，主要用于专用集成电路(A-测试计算机子系统测试、侧t子系统 ┌───┐ │系统 │ │控制器│ └───┘ ┌──┐ ┌─────────┐│终端│ │被侧器件 ││ │ ├─────────┤└──┘ │测试夹具 │ ├─────────┤┌───┐ │引脚电子电路 ││外围 │ └─────────┘│设备 │ ┌───┐┌────┐└───┘ │交流测││’直流测│ │量系统││.t系统 │ └───┘└────┘图1数字IC测试系统框图SIC)设计。验证测试系统是在IC验证系统的基础上，增加了直流和交流参数的测试功能，其特点是将IC的设计与测试紧密地联系起来。 测试系统由硬件和软件组成。 系统硬件可分为测试计算机子系统和测试、测量子系统两大部分，其结构如图1所示。 测试计算机子系统包括以下部件: (1)系统控制器一个高速处理部件。通过总线结构对测试系统进行控制，可以完成各种测试、记录和数据处理任务。系统控制器可以采用各种商用计算机。 (2)主存储器与系统控制器相连的高速大容量存储器，用于存储各种原始的测试向量和数据。 (3)图形发生器控制所有测试图形的产生和控制图形序列的处理器，提供测试功能数据，功能指施加、比较、禁止、屏蔽等。 (4)时钟发’l器一个具有多相时钟信号的多重定时集合发’}_器，定时集合可按测试周期实时选择和切换。 (5)外围设备用来满足控制器测试环境要求的部件，如磁盘、磁带、打印机、图形终端等。 (6)矩阵模拟开关矩阵，通过50n矩阵接于测试台。 (7)数据接口主控器与测试台之间的接口，用于测试数据、测试命令等信息交换。 (8)供电电源可编程供电电源的集合。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条