1) strain-optic law
应变-光定律
1.
The orthotropic photoelastic strain-optic law is discussed.
对正交各向异性光弹性应变－光定律进行了讨论，指出从物理机制上看，该定律是光弹性的基本定律，具有普遍适用性；形式双折射是影响正交各向异性光弹性实验精度的重要因素。
2) stress-strain properties
应力应变定律
3) stress optic law
应力-光性定律
1.
Based on the dynamic stress optic law and by making use of the stress values from strain measurements and BEM calculation, the history of birefringent fringe orders are calcul.
基于静态下Ｈｙｅｒ和Ｌｉｕ表述的正交异性应力－光性定律，在前文中，提出了正交异性光弹性复合材料的动态应力－光性定律并证明了其在单轴应力状态下的正确性。
2.
A stress optic law for dynamic photoelastic analysis of orthotropic materials is postulated based on the static stress optic law of Hyer and Liu.
文章对适用于动态研究的正交异性光弹性复合材料进行了分析，详细说明了光弹性复合材料中残余双折射的确定方法；基于静态下Ｈｙｅｒ和Ｌｉｕ应力－光性定律，提出了正交异性动态应力－光性定律，并对正交异性材料的动态力学参数及动态光弹性常数给出了实用的标定方法；最后，利用三个单轴压缩试件（０°，９０°及４５°），采用动态应变测量方法，证实了单轴应力状态下正交异性动态应力－光性定律的正确性。
4) stressoptic law
应力一光学定律
5) stress-optical law
应力光学定律
6) change-of-linkage law
电磁感应定律，磁链变化定律
补充资料：光弹性应变计
根据光弹性贴片法原理制成的一种应变计，主要由一块光弹性材料（如环氧树脂）制成的小薄片和覆盖在这薄片上面的偏振片所组成。测试时将光弹性应变计固定在构件的被测表面上，当构件承受载荷时，薄片就随构件表面一起变形。这种变形在偏振光场中以等差线条纹的移动或增多反映出来，故能直接指明被测点的应变大小和方向。一般情况下，应变计的灵敏度能达到30微应变（1微应变＝10-6毫米／毫米）；如果采用特殊的观测仪器,灵敏度能达到5微应变。光弹性应变计的主要优点是：直观性好；不需要复杂的附加设备；抗干扰性好，可用于较恶劣的试验条件（如水下、爆炸气体中），或者被测表面比较粗糙的试件上；可以重复使用。光弹性应变计的尺寸不可能很小，厚度不可能很薄，因此只能用于尺寸较大的构件，在桥梁、矿井、水坝和房屋建筑以及机械工程中应用较广。光弹性应变计通常有以下两种类型：
单轴光弹性应变计 它是将环氧树脂梁在纯弯曲作用下冻结后切片制成的。切片的长度方向和梁的轴线垂直。在应变计长度方向装有标尺，可由等差线条纹移动的距离,直接指示沿应变计长度方向应变的大小（图1）。
双轴光弹性应变计 它是一个中央开有小孔且无初始应力的圆薄片(图2)。受力后，圆薄片中等差线条纹的对称轴方向，标志着主应变或主应力的方向（图3）。根据孔附近的条纹级数进行计算，并依据有关的数据表确定两个主应力的大小。但为方便起见，常用双轴应变计测定主应变方向或比值，而用单轴应变计测定主应变大小。
参考书目
A.柯斯克、G.罗伯逊著，王燮山、黄杰藩、金炎、黄永权译：《光弹性应力分析》,上海科学技术出版社,上海，1979。(A. Kuske and G.Robertson,Photoelastic Stress Analysis,JohnWiley & Sons,New York,1974.)
单轴光弹性应变计 它是将环氧树脂梁在纯弯曲作用下冻结后切片制成的。切片的长度方向和梁的轴线垂直。在应变计长度方向装有标尺，可由等差线条纹移动的距离,直接指示沿应变计长度方向应变的大小（图1）。
双轴光弹性应变计 它是一个中央开有小孔且无初始应力的圆薄片(图2)。受力后，圆薄片中等差线条纹的对称轴方向，标志着主应变或主应力的方向（图3）。根据孔附近的条纹级数进行计算，并依据有关的数据表确定两个主应力的大小。但为方便起见，常用双轴应变计测定主应变方向或比值，而用单轴应变计测定主应变大小。
参考书目
A.柯斯克、G.罗伯逊著，王燮山、黄杰藩、金炎、黄永权译：《光弹性应力分析》,上海科学技术出版社,上海，1979。(A. Kuske and G.Robertson,Photoelastic Stress Analysis,JohnWiley & Sons,New York,1974.)
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条