1) width fluctuation correction
带宽度涨落
1.
The interaction reaction data of the neutron with Tin have been calculated by the optical model(OPM), HauserFeshbach theory with width fluctuation correction(WHF) and evaporation model including preequilibrium emission(PEM) in the energy range of incident neutron between 1 to 20 MeV.
对天然锡中子反应的实验数据进行评价，并用光学模型（ＯＰＭ）、带宽度涨落修正的豪泽－费许巴哈理论（ＷＨＦ）以及平衡前发射的蒸发模型（ＰＥＭ），计算了入射能量为１～２０ＭｅＶ的中子与锡核相互作用的反应数据。
2.
The reaction data of neutron with titanium have been calculated by means of the optical model, the Hauser Feshbach theory with width fluctuation correction and the evaporation model including the preequilibrium emission in the energy range from 1 to 20 MeV.
采用光学模型（ＯＰＭ）、带宽度涨落修正的豪泽－费许巴哈理论（ＷＨＦ）和包括平衡前发射在内的蒸发模型（ＰＥＭ），计算了入射能量为１～２０ＭｅＶ的中子和天然钛的反应数据。
2) Density fluctuation
密度涨落
1.
Motion equation of density fluctuation in the nuclear reaction in stellar core;
星核反应密度涨落运动方程
2.
The dependence of the mass distribution of fragments, density fluctuation and the MLE on temperature has been studied for nuclear systems 124 Sn an.
应用量子分子动力学模型 ,从原子核发生碎化时的碎块质量分布、密度涨落以及混沌动力学中描述混沌程度的最大Lyapunov指数等 3个方面 ,对原子核的液气相变及其在临界点附近的行为进行较为全面的探讨 。
3.
The liquid superheat limit and vapor subcooling limit in homogeneous nucleation are determined in the present paper by using density fluctuation theory of statistical thermodynamics.
应用统计热力学巨正则系综的密度涨落理论 ,提出了确定均质沸腾中液体极限过热度和均质凝结中蒸汽极限过冷度的方法。
5) fluctuation scaling
涨落尺度
6) concentration fluctuation
浓度涨落
补充资料：板带宽度测量
板带宽度测量
width measurement of plate and strip
薯 光电测宽原理图 1一光源;2一被测板带;3一给定丝杆;4一图像传感器; 5一电机;6一码盘;7微处理机;8一操作盘 对于尺寸较小的板带宽度(或厚度和长度)，可以用单个光电摄像传感器进行测量。当CCD元件不选用线性组件而选用面形组件时，配以相应的信号处理系、统，可以测量被测体的外形尺寸，可以作为摄像机加以显像。banda一kuandu ee}旧ng板带宽度测量(width mensurement of plateand strip)指板带宽度尺寸的在线测量。在大多数情况下，用光电测宽仪测量轧机出口处板带材的宽度，作为轧机控制或控制模型的信号源，有宽度显示作为操作人员所需的工艺参数，在精整剪切线上作为剪切控制的信号源。 光电测宽方式原理如图所示。常用的仪表有光电扫描式和光电摄像式两类。它们的测量范围为50。~22oomm，测量精度达士0.1%。前者光学机械较多，结构较复杂;后者结构较简单，可靠，维护量小。二者的不同点在于图像传感器的不同。光电摄像传感器使用光藕合器件(C CD)作为信号接受元件(见轧件直径测量)，每个光电摄像传感器由CCD接收器件、光学镜头、时序电路和信号处理电路等组成。传感器装在被测板的上方，被测板下方放置背底光源，如果被测板的温度在900‘c以上时也可不用背底光源。根据光学成像原理，被测板边缘清晰地成像在CCD元件下。每个摄像传感器测量的宽度值连同设定宽度值进行数据处理，即可求得被测板的实际宽度值。(见彩图插页第39页)用CCD元件组成的测量仪表还在发展，以提高测量精度、分辨率以及增加功能、配备图像显示等为目标。 〔申敬府朱德芳〕
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条