1) fitting interferogram with Zernike polynomials
Zernike多项式干涉波面拟合
2) Zernike polynomials
Zernike多项式拟合
1.
The research is to unite traditional optical method with modern quantizing image technique,and to calculate interferogram using the advance quantizing image processing means and fitting interferogram method with Zernike polynomials so that the evenness and other technical parameters of surface of optical plane glass can be quickly and precisely measured.
本研究把传统光学方法与现代数字化图象技术相结合 ,运用先进的数字化图象处理手段和 Zernike多项式拟合干涉波面方法进行干涉图象的计算 ,并在理论上有较大的突破 ,从而可快速准确测量出光学平面玻璃表面的平整度以及对其它技术指标的定量评定 。
2.
The research is to unite the traditional optical method with the modern quantizing image technique ,and to calculate interferogram using the advance quantizing image processing means and fitting interferogram method with Zernike polynomials so that the evenness and other technical parameters of surface of optical plane glass can be quickly and precisely measured.
通过把传统光学方法与现代数字化图像技术相结合 ,运用先进的数字化图像处理手段和Zernike多项式拟合干涉波面方法进行干涉图像的计算 ,并应用自己在理论研究上的突破 ,从而可快速准确测量出光学平面玻璃表面的平整度以及对其它技术指标的定量评定。
3) Zernike polynomial fitting algorithm
Zernike多项式拟合算法
4) Zernike polynomial
Zernike多项式
1.
A new algorithm for human eye s wave-front aberration fitting with Zernike polynomial;
Zernike多项式拟合人眼波前像差的一种新算法
2.
Regression analysis of wavefront fitting using Zernike polynomial;
Zernike多项式波面拟合的回归分析方法
3.
Analyzing thermal deformation of ultra-thin mirror using Zernike polynomials;
利用Zernike多项式分析超薄镜热变形
5) Zernike polynomials
Zernike多项式
1.
Methods of opto-mechanical analysis with Zernike polynomials;
用Zernike多项式实现光机分析的技术方法
2.
Gamut mapping based on gamut boundaries expressed with Zernike polynomials;
基于Zernike多项式表示色域边界的色域映射
3.
Study on wavefront fitting using Zernike polynomials;
基于Zernike多项式进行波面拟合研究
6) quasi-zernike polynomial
准zernike多项式
1.
In the process of adopting quasi-zernike polynomial wavefront fitting method to solution the correction force of the active optics,the result error is big and instability because the quasi-zernike polynomial is not orthogonal.
针对采用准zernike多项式拟和法求主动光学校正力的过程中,因为准zernike多项式的不正交性造成求解误差大、求解不稳定的问题,提出了对准zernike多项式进行householder变换的方法。
补充资料：波面干涉仪
用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为λ/10～λ/100, λ为检测用光源的平均波长。常用的波面干涉仪为泰曼干涉仪和斐索干涉仪。
泰曼干涉仪由两个准直透镜、分束器、标准平板以及标准球面镜所组成。单色光经小孔、光源准直透镜后被分束器分解成参考光束和检测光束。二者分别由标准平面和检测系统自准返回后，再经分束器，通过观测准直透镜重合，形成等厚干涉条纹，如图1所示。根据条纹的形状来判断被测件的光学质量。
用泰曼干涉仪检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，和检测无限或有限共轭距镜头的波面像差，只需在检测光路中，用一标准的平面或球面反射镜，或再附加一负透镜组，以形成平面的自准检测光束即可，分别如图1a、图1b、图1c、图1d、图1e所示。
斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，如图2b；后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组成，如图2b。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。
用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，如图2a、图2b、图2c所示。用斐索球面干涉仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约 1??m；也可以检测无限、有限共轭距镜头的波面像差，如图2d所示。
除了上述两种常用的干涉仪外，还有横向、径向剪切干涉仪，这种干涉仪没有参考波面。横向剪切干涉仪把被测光束分解成两个相同的，但相互横移的相干光束。径向剪切干涉仪则是把被测光束分解成波面面形相似，但横截面大小不相同的两相干光束。干涉出现在两相干光束的重叠区域内。两者分别如图3、图4所示。该两种干涉仪有多种多样的形式，如平板式、棱镜式、透镜式、光栅式等。横向剪切干涉仪不能直接测得波面像差；径向剪切干涉仪系统误差稍大。虽然这两种干涉仪易于加工，但仍未能像泰曼干涉仪那样被广泛使用。
干涉图的分析，可用目视或照相，也可以在干涉仪上,配备光电探测器件和微处理机及终端系统,扫描、采样和分析干涉花样。称这种干涉仪为数字干涉仪。
泰曼干涉仪由两个准直透镜、分束器、标准平板以及标准球面镜所组成。单色光经小孔、光源准直透镜后被分束器分解成参考光束和检测光束。二者分别由标准平面和检测系统自准返回后，再经分束器，通过观测准直透镜重合，形成等厚干涉条纹，如图1所示。根据条纹的形状来判断被测件的光学质量。
用泰曼干涉仪检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，和检测无限或有限共轭距镜头的波面像差，只需在检测光路中，用一标准的平面或球面反射镜，或再附加一负透镜组，以形成平面的自准检测光束即可，分别如图1a、图1b、图1c、图1d、图1e所示。
斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，如图2b；后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组成，如图2b。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。
用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，如图2a、图2b、图2c所示。用斐索球面干涉仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约 1??m；也可以检测无限、有限共轭距镜头的波面像差，如图2d所示。
除了上述两种常用的干涉仪外，还有横向、径向剪切干涉仪，这种干涉仪没有参考波面。横向剪切干涉仪把被测光束分解成两个相同的，但相互横移的相干光束。径向剪切干涉仪则是把被测光束分解成波面面形相似，但横截面大小不相同的两相干光束。干涉出现在两相干光束的重叠区域内。两者分别如图3、图4所示。该两种干涉仪有多种多样的形式，如平板式、棱镜式、透镜式、光栅式等。横向剪切干涉仪不能直接测得波面像差；径向剪切干涉仪系统误差稍大。虽然这两种干涉仪易于加工，但仍未能像泰曼干涉仪那样被广泛使用。
干涉图的分析，可用目视或照相，也可以在干涉仪上,配备光电探测器件和微处理机及终端系统,扫描、采样和分析干涉花样。称这种干涉仪为数字干涉仪。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条