1) chip test
芯片测试
1.
Through the semiconductor chip test data system\'s basic architecture description,study on the semiconductor chip test data transmission process and method,to provide an important technical support for enterprises.
通过对半导体芯片测试数据系统的基本架构描述,研究了半导体芯片测试数据传输的过程及方法,为生产企业提供了技术支持。
2) Chip testing
芯片测试
1.
This article elaborated the chip testing DNA computer algorithm research significance, the present situation, the research content, the research technique and so on.
最后阐述了芯片测试的DNA计算机算法研究的意义、现状、研究内容、研究方法等。
3) test chip
测试芯片
1.
This dissertation tries to investigate some kinds of problems of IC manufacturability and yield by studying CMP process and test chip.
本文从化学机械抛光和测试芯片两个方面对可制造性和成品率问题展开了分析和研究。
4) SoC chip testing
SoC芯片测试
1.
This paper describes the basic methods and equipment for several devices SoC chip testing to respond the challenges of SoC testing technology.
介绍了应对SoC测试技术挑战的基本方法和设备结构及几家设备公司SoC芯片测试设备概况。
5) testing of network chips
网络芯片测试
6) chips interconnection test
芯片级互连测试
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条