1) angular-dependent X-ray electron spectroscopy
变角X射光电子能谱
2) ADXPS
变角X射线光电子能谱
1.
Angle dependent X-ray photoelectron spectroscopy(ADXPS)was used in analyzing SiO2/SiC interface transition region.
采用变角X射线光电子能谱(ADXPS)技术对SiO2/SiC界面过渡区进行分析,通过过渡区厚度计算和过渡区成分含量比较,发现湿氧二次氧化工艺可减小过渡区氧化膜厚度,降低过渡区成分含量,进而揭示了降低SiO2/SiC界面态密度,改善界面电学特性的微观机理。
3) angle resolved X-ray photoelectron spectra
变角度X射线光电子谱
4) angle dependent XPS
变角X光电子能谱
5) angle-resolved XPS
角分辨X射线光电子能谱
6) ARXPS
小角度X射线电子能谱
补充资料：角射
1.竞技射击。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条