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1)  vertical array sand traps
垂直点阵集沙仪
1.
Numerous data have been obtained form vertical eolian sand\|mass flux profiles by using a wide variety of vertical array sand traps.
垂直点阵集沙仪是挟沙气流中输沙量垂线分布测量的主要仪器。
2)  vertical linear array
垂直线阵
1.
The principle of passive localization based on vertical linear array and observability analysis
基于垂直线阵无源定位的可观测性研究
2.
A brief introduction of vertical linear array is presented in this paper.
简要介绍了三点垂直线阵被动定位的原理。
3.
In this paper the measurement of sound velocity and thickness of seabed sediment are introduced using the vertical linear array which is concerned with sound refraction and reflection.
介绍了利用垂直线阵结合声传播的折射法和反射法进行海底沉积层速度和厚度测量,给出反射法和折射法测量的原理及其时距曲线方程。
3)  vertical gust
垂直阵风
1.
By additional angle of attack vertical gust influences the movement of a transport,and causes normal load and pitch rate response.
以某大型运输机为例,通过卡尔曼滤波方法,将飞机法向过载和俯仰角速度综合进飞机的操纵输入来估计垂直阵风条件下的飞机迎角,并进行了仿真。
4)  matrix perpendicularity
矩阵垂直
1.
The sufficient and necessary condition for matrix perpendicularity and the relationship between the sum of element for matrix Hadamard product and the determinant for this matrix was also found.
找到了矩阵垂直的充要条件,矩阵Hadamard乘积的元素和与此矩阵的行列式的关系。
5)  perpendicular array
垂直阵列
1.
Using perpendicular arrays,one class of Cartesian authentication code is constructed and its size parameters are computed.
利用垂直阵列构作了一个Cartesian认证码,计算了它的参数。
2.
In this paper,by using perpendicular arrays,the authors construct one class of non-Cartesian authentication code,and compute its size parameters.
利用垂直阵列构作了1个non-Cartesion认证码,计算了它的参数。
6)  Vertical Array
垂直阵
1.
Prediction and monitor of vertical array in steady stream
定常流作用下垂直阵线形预报及测量
补充资料:点阵平面指数和点阵方向指数
      在金属学问题中,往往需要涉及点阵中某个晶面和晶向。晶体的晶面和晶向,可用密勒指数(Miller in-dices)的规定符号来表示。取平行于晶胞边棱的三个轴x,y,z,每根轴分为长度与晶胞边长(a,b,c)相等的等分,沿各轴的距离就用这些边长的倍数来表示。当标志一个晶面时,先确定此平面在三根轴上的截距,然后取截距的倒数并通分,即化为同分母的分数。截距的倒数便成为 h/n,k/n,l/n 的形式,这里 h,k,l是整数,n是公分母,把整数h,k,l括入一个圆括号内,就得到了晶面的密勒指数(h k l),简称晶面指数。图1所示晶面在x,y,z三根轴的截距相应为2,3,1,OP=2,OQ=3,OR=1,倒数各为1/2,1/3,1,公分母为6,因此截距的倒数可写为3/6,2/6,6/6。(3 2 6)即用来表示这个晶面。由此得出的这些指数只说明关于晶面的几何关系,而对原子在晶面上的分布或类型并未涉及。另一方面,一组密勒指数,例如(3 2 6),不仅描述一个晶面,而且描述所有与之平行的晶面。例如截距为4、6和2的平面必定和图1所示平面平行,并可证明其密勒指数也是(3 2 6)。
  
  图2示出立方晶系的一些重要晶面。其中指数为 0表示平行于某一晶轴的晶面,与该轴相交于无限远;而一个晶面与晶轴交于负向时,则在指数上方画一短横线表示。对于晶体学相同而只是取向不同的一族晶面,用另一种括号,如{100}表示所有的立方体面,包括(100),(ī00),(010),(0ī0),(001)和(00ī)各晶面。
  
  点阵的晶向用方括号表示。标定时,先通过原点沿此方向作一直线,然后根据晶胞边长确定此直线上一点的坐标,如x=a,y=-2b,z=c/3。晶向指数就是和这些坐标成正比的最小整数〔3宮1〕。在立方晶系中晶向总是和具有相同指数的晶面相垂直,如〔111〕垂直于(111),等同的晶向族,如〔100〕,〔010〕,〔001〕,〔ī00〕,〔0ī0〕和〔00ī〕用<100>表示。
  
  六方晶系中除密勒指数外,往往使用另一种密勒-布喇菲法。六方对称性要求四个坐标轴(图3),三根轴x、y、u在底面上,并沿密排方向互呈120°夹角,第四根轴则垂直于底面。箭头指向为轴的正方向,按x、y、u、z 顺序测出晶面在这四个轴上的截距,可定出其密勒-布喇菲指数为(hkil),而且i=-(h+k),或h+k+i=0。图4示出六方晶系的一些重要晶面。容易证明,(10ī0)面就是密勒指数表示的(100)面。六方晶系的晶向同样可用三指数密勒系(图4)或四指数密勒-布喇菲系表示。
  

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参考词条