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1)  equal inclination interference
等倾干涉
1.
Comparison of Newton rings and equal inclination interference;
牛顿环与等倾干涉条纹比较
2.
Computer simulates and analyzes the temporal coherence of light of equal inclination interference;
用计算机模拟分析等倾干涉的时间相干性
3.
Experiment of multiple beam equal inclination interference fringes;
多光束等倾干涉圆环的实验研究
2)  interference of equal inclination
等倾干涉
1.
This paper mainly uses a similar induction method to discuss the interference of equal inclination of various light sources.
用类似归纳的方法讨论了物理各种光源的等倾干涉,在讲述过程中把光线的倾角适度“量化”处理,便讲述思路清晰、条理清楚,因此对等倾干涉的理解也与更容易,透彻。
2.
This paper presents the method of fulfilling interference of equal inclination of light on a piece of thin film made of water in a spectrometer.
本文介绍利用分光计来观察光的等倾干涉的方法 ,该实验所用的器材普及 ,易于操作 ,现象明显 ,并能反映出某些动态过
3)  Isoclinic interferometer
等倾干涉仪
1.
Isoclinic interferometer was rebuilt with machine vision technology to realize fast flatness measurement of optical flat.
为实现平晶平面度的快速测量,运用机器视觉技术对等倾干涉仪进行改造。
4)  interference of equal inclination
等倾角干涉
5)  Interferential installation with isoclinic circle fringe
等倾干涉装置
6)  interference pattern of equal inclination
等倾干涉图样
1.
Spectrometer method for observing interference pattern of equal inclination;
用分光计观察入射角变化时的等倾干涉图样
补充资料:等倾干涉条纹
      平行平面板在扩展单色光源照明下于无限远处(透镜的焦平面上)所产生的干涉条纹。平行平面板可以是玻璃板或云母片,也可以是空气薄板,如法布里-珀罗干涉仪或迈克耳孙干涉仪的情形。
  
  这种干涉条纹首先为W.K.海丁格尔在1849年所偶然发现。所以常把等倾干涉条纹称作海丁环。但他没有作进一步的探讨。后来E.E.N.玛斯卡尔于1871年和O.R.陆末于1884年才各自独立地进行了深入的研究。
  
  现以附图说明等倾干涉条纹的形成。图中P为平行平面板,在离P约50厘米的距离上放一个会聚透镜L,L的焦平面上放有观察屏S,并且屏与平行平面板平行。在P和L之间放一块半反射镜T,T与P约成45°角。Q为扩展单色光源。
  
  由光源各点于各方向上发出的光,经T反射后,入射到平行平面板P上,光在平行平面板的前后两表面发生反射。可以证明,两反射光的光程差为
  式中n、d分别为平行平面板的折射率和几何厚度,α为光的折射角,亦即光的倾角。因为n和d皆为常数,墹就只与α有关。因此倾角相同的光,由平行平面板所产生的光程差亦相同。在所示情况下,光程差相同的诸相干光在透镜焦平面上便会聚于同一干涉圆环上。视 α的不同数值(也要考虑光在表面上反射时的位相跃变),各干涉环有不同的亮度,因而干涉图样呈明暗相间的同心圆环状,其中心位于从透镜中点向S和P所作垂线的垂足上。
  
  当把眼睛调焦到无限远时,也可用眼睛来直接观察等倾干涉条纹。干涉环的中心便位于由眼睛向平行平面板所作垂线的垂足上,其亮度则由与板相垂直的两相干光的位相差的大小所决定。
  
  当把位于眼睛和扩展光源之间的平行平面板横移时(更简单些是将眼睛横移),如果平行平面板是理想的,则干涉环仍保持其理想的圆环状。但如果平行平面板有微小的厚度误差,则视误差的大小干涉图样发生程度不同的变化。当圆心由暗变亮或由亮变暗时,就相当于两相应位置有一 1/4波长(所用单色光的波长)的光学厚度差(光学厚度差等于折射率与几何厚度的乘积)。因此,等倾干涉条纹也是检验平行平面板,是一种灵敏而又简单的检验方法。
  

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