2) processing of interference fringe
干涉条纹图处理
3) Interferometric image Image processing Fringe analysis
干涉条纹图象处理条纹分析
4) interference fringe
干涉条纹
1.
Study on identifying transparent bits of broken glass by laser interference fringe;
利用激光干涉条纹对透明玻璃碎片进行同一认定的研究
2.
Polarized phase-shifting-based interference fringe subdivision;
基于偏振相移的干涉条纹细分原理
3.
Arithmetic of the Mach-Zehnder interference fringe;
马赫-泽德干涉条纹图像处理算法
5) interference fringes
干涉条纹
1.
Birefringence measurements using overlapping of interference fringes;
晶体双折射测量的干涉条纹重迭法
2.
The method of processing the interference fringes can not meet the demand for processing velocity and measurement accuracy.
在采用斐索(Fizeau)干涉仪和FabryPerot(法布里-珀罗)标准具的激光波长自动检测系统中,处理干涉条纹的方法始终存在处理速度和精度的矛盾。
3.
The distribution of the interference fringes and its change with respect to the change of optical path difference are analysed and some of its applications are also introduced.
本文介绍了泰曼 -格林干涉仪的一种变形 ,分析了在这种情况下所获得的干涉条纹的分布 ,及其随光程差变化而变化的规律 ,并介绍了它的应用。
6) interference pattern
干涉条纹
1.
We used the following methods for obtaining these parameters from laser interference patterns: First,processing the acquired images with filtering and binary morphology by using Matlab software;Then finding the centers and the radii of the circles by using geometry method;Finally,calculating the frequencies and the angles by conversion expressions.
激光相干告警系统要获取的基本信息是入射激光的频率和入射角度,为了从激光干涉条纹图像中获取这些参数,文中的处理思路是:首先借用Matlab软件对获得的图像进行滤波、二值化等处理,然后运用几何学中弧线、直线交点等方法计算二值图像中圆心和半径等参数,再根据数学模型计算、转换出激光的入射角和频率。
2.
The additional optical path difference of Michelson interferometer without compensator is analyzed, and the equation of interference pattern is deduced.
通过分析缺失补偿板的迈克尔逊干涉仪中的附加光程差,推出干涉条纹满足的方程式,并用计算机模拟了动镜移动过程中变化的干涉条纹,与实验结果相一致。
3.
The distribution of interference pattern in Young s double-slit experiment of vortex beam,which was generated by passing a plane beam through a spiral phase plate,was investigated.
研究了平面波经过螺线型相位板后产生的涡旋光束,经双缝干涉后在干涉场中干涉条纹的分布情况。
补充资料：等厚干涉条纹
定域在薄膜附近，与膜的等厚度线一致的干涉条纹。为简单起见，先讨论一下由折射率均匀而夹角又很小的楔形平面板（可以是玻璃板，也可以是空气层）所生的干涉。如图1所示，由光源S发出的单色光,经平面板上、下两表面反射后在干涉场中某点 P所生的干涉效应取决于两相干的光的光程差：，
式中n和n┡分别为楔形平板和周围媒质的折射率。实际上，因为板的厚度一般都很薄，因此上式可近似用式，
式中d为楔形平板在B点的厚度,i2为入射光在A点的折射角。考虑到光在上、下两表面反射时产生的位相跃变,则又可写作，
式中λ为光的波长。由此式可以看出,当光源距楔形板较远或观察干涉条纹时的仪器（眼睛或低倍显微镜）的孔径很小，以致在整个视场内的光的入射角i1可视为常量时，则楔形板上、下两表面引起的两反射光在相遇点的位相差就只决定于产生该反射光处薄板的厚度d。显然，板上厚度相同的地方对反射光引起的光程差相同。因此同一干涉条纹是由板上厚度相同的地方引起的反射光形成的。这种干涉条纹称作等厚干涉条纹。在上述楔形平板的情况下，干涉条纹为平行楔棱的等距直条纹。
等厚干涉条纹的定域如图2所示。图2a中干涉条纹定域在楔形板上方的P处;图2b中干涉条纹则定域在楔形板下方的 P处。实际上由于楔形板很薄，只要光在板面上的入射角不大，则可认为干涉条纹定域在板表面上。因此，为观察或拍摄等厚干涉条纹，须将眼睛或照相机调焦到板表面上。
等厚干涉条纹在光学检验上有重要作用。如测楔形平板的微小角度，测定光学表面的曲率，检查光学表面的平整度，测量长度的微小变化等等。
式中n和n┡分别为楔形平板和周围媒质的折射率。实际上，因为板的厚度一般都很薄，因此上式可近似用式，
式中d为楔形平板在B点的厚度,i2为入射光在A点的折射角。考虑到光在上、下两表面反射时产生的位相跃变,则又可写作，
式中λ为光的波长。由此式可以看出,当光源距楔形板较远或观察干涉条纹时的仪器（眼睛或低倍显微镜）的孔径很小，以致在整个视场内的光的入射角i1可视为常量时，则楔形板上、下两表面引起的两反射光在相遇点的位相差就只决定于产生该反射光处薄板的厚度d。显然，板上厚度相同的地方对反射光引起的光程差相同。因此同一干涉条纹是由板上厚度相同的地方引起的反射光形成的。这种干涉条纹称作等厚干涉条纹。在上述楔形平板的情况下，干涉条纹为平行楔棱的等距直条纹。
等厚干涉条纹的定域如图2所示。图2a中干涉条纹定域在楔形板上方的P处;图2b中干涉条纹则定域在楔形板下方的 P处。实际上由于楔形板很薄，只要光在板面上的入射角不大，则可认为干涉条纹定域在板表面上。因此，为观察或拍摄等厚干涉条纹，须将眼睛或照相机调焦到板表面上。
等厚干涉条纹在光学检验上有重要作用。如测楔形平板的微小角度，测定光学表面的曲率，检查光学表面的平整度，测量长度的微小变化等等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条