3) data algorithm
数据算法
1.
By employing a data algorithm which uses only a maximum command capacity of 8.
高炉炉壳下料的数控火焰切割机编程数据算法突破数控中心命令极限只有 8 388m及数据设置整数位须≤ 5的局限 ,实现精确切割 ,大大提高了工作效率 。
4) wavenumber domain algorithm
波数域算法
1.
Synthetic Aperture Radar has four range models,and four wavenumber domain algorithms are presented using the four models in this paper.
合成孔径雷达(SAR)存在四种距离模型,本文利用这四种模型推导出四种波数域算法,给出了四种算法详细的推导过程,并得到了四种算法和四种模型之间的一一对应关系。
2.
Mainly it discusses three imaging algorithms-Range-Doppler algorithm, wavenumber domain algorithm and Chirp Scaling algorithm.
本文论述了合成孔径雷达(SAR)成像算法方面的一些问题，主要讨论了三种成像算法——-Range-Doppler算法，波数域算法及Chirp Scaling算法，并讨论了成像算法的辅助处理算法——中心频率估计算法及自聚焦算法。
5) Data Stream Algorithm
数据流算法
6) Data stream algorithms
流数据算法
补充资料：数据域测量
对数字系统逻辑特性进行的测量，主要用以对数字系统的故障进行侦查、定位或诊断。数据域测量是60年代末和70年代初发展起来的测量技术。
数字系统所处理的二进编码脉冲序列通常称为数据。集成化数字电路特点之一是内部电路复杂而外部可测点甚少，因而要求在一定的输入数据样式下，在有限输出点上测量输出数据样式，从而推断电路内部发生的事件。这就是所谓数据域测量，它同经典的时域测量与频域测量根本不同。另外,数字系统内部故障所引起的现象,往往要经过相当长时间（许多个机器操作周期）才能在输出上表现出来，而在某些情况下也可能不表现出来，用经典的时域或频域测量仪器（如示波器等）是无法测出的。因此，需要发展一套新的测量技术和测量仪器。
数字电路中，由于材料和工艺上的缺陷而引起电路的异常动作称为故障。故障是缺陷的逻辑表现。发现故障的存在称为故障侦查；确定故障发生的部位，称为故障定位；侦查和定位合称为诊断。对于复杂系统，完备的侦查或定位十分困难,理论分析和实际测量的对象,往往仅限于固定的永久性呆滞型故障，即当电路某一个或多个节点恒呆滞于0（记作s-a-0）或呆滞于1(s-a-1)的情况。例如，共射极连接的晶体管电路，当集电极或基极断路时，其集电极负载输出即形成 s-a-1故障（恒为高电平）；当集电极与发射极短路时,输出即形成s-a-0故障(恒为低电平)。在一个"与"门中，正常的真值表如图中a。当输入端x1有s-a-1时,其实际真值表将如图中b。□表示故障情况。若输入激励(x1=0,x2=1),或写成为矢量形式X=（0，1）,则由于x1的s-a-1，将使输出为y=1，而不是正常的y=0。于是,输入矢量X 就可以侦查出这个故障。图中c表示"与"门输出端y有 s-a-1的情况。有三个输入矢量X1=(0,1),X2=(0，0)，X3=(1,0)都能侦查这一故障。因此，多个输入矢量能侦查同一故障；而同一个输入矢量也可能侦查几种不同故障,例如X1=(0,1)既能侦查"与"门x1的s-a-1,也能侦查y的s-a-1。若单只用X1=(0，1)，则当测量到y=1时,这表明被测"与"门有故障,但不能断定x1或y有s-a-1，或二者均存在。换言之，X1=(0,1)只能作故障侦查，而不能定位。如果继之再输入一个矢量X2=(0，0),即可达到诊断的目的，如图中 d所示。测量过程所用的输入矢量序列（测试样式）X1,X2,...,Xn及其相应的无故障输出矢量序列（正常输出样式）Y1,Y2,...,Yn总称为一个测试,并记作T＝｛X1,X2,...,Xn;Y1,Y2，...,Yn｝。n称为测试的长度。图中d 的例子是一个长度为2的T,T=｛(0,1),(0，0)；(0)，(0)｝。
数据域测量的主要目的是寻求尽可能完备的、短的测试集，产生测试所需的测试样式，捕获并显示输出样式，从而完成故障的侦查或定位。
产生测试样式的仪器称为样式发生器，或数字发生器。用各种方式捕获并显示输出样式的仪器称为逻辑分析仪，或故障寻迹仪。还有一类利用数据压缩技术作不完备测量用的简易仪器，称为特征分析仪。
数字系统所处理的二进编码脉冲序列通常称为数据。集成化数字电路特点之一是内部电路复杂而外部可测点甚少，因而要求在一定的输入数据样式下，在有限输出点上测量输出数据样式，从而推断电路内部发生的事件。这就是所谓数据域测量，它同经典的时域测量与频域测量根本不同。另外,数字系统内部故障所引起的现象,往往要经过相当长时间（许多个机器操作周期）才能在输出上表现出来，而在某些情况下也可能不表现出来，用经典的时域或频域测量仪器（如示波器等）是无法测出的。因此，需要发展一套新的测量技术和测量仪器。
数字电路中，由于材料和工艺上的缺陷而引起电路的异常动作称为故障。故障是缺陷的逻辑表现。发现故障的存在称为故障侦查；确定故障发生的部位，称为故障定位；侦查和定位合称为诊断。对于复杂系统，完备的侦查或定位十分困难,理论分析和实际测量的对象,往往仅限于固定的永久性呆滞型故障，即当电路某一个或多个节点恒呆滞于0（记作s-a-0）或呆滞于1(s-a-1)的情况。例如，共射极连接的晶体管电路，当集电极或基极断路时，其集电极负载输出即形成 s-a-1故障（恒为高电平）；当集电极与发射极短路时,输出即形成s-a-0故障(恒为低电平)。在一个"与"门中，正常的真值表如图中a。当输入端x1有s-a-1时,其实际真值表将如图中b。□表示故障情况。若输入激励(x1=0,x2=1),或写成为矢量形式X=（0，1）,则由于x1的s-a-1，将使输出为y=1，而不是正常的y=0。于是,输入矢量X 就可以侦查出这个故障。图中c表示"与"门输出端y有 s-a-1的情况。有三个输入矢量X1=(0,1),X2=(0，0)，X3=(1,0)都能侦查这一故障。因此，多个输入矢量能侦查同一故障；而同一个输入矢量也可能侦查几种不同故障,例如X1=(0,1)既能侦查"与"门x1的s-a-1,也能侦查y的s-a-1。若单只用X1=(0，1)，则当测量到y=1时,这表明被测"与"门有故障,但不能断定x1或y有s-a-1，或二者均存在。换言之，X1=(0,1)只能作故障侦查，而不能定位。如果继之再输入一个矢量X2=(0，0),即可达到诊断的目的，如图中 d所示。测量过程所用的输入矢量序列（测试样式）X1,X2,...,Xn及其相应的无故障输出矢量序列（正常输出样式）Y1,Y2,...,Yn总称为一个测试,并记作T＝｛X1,X2,...,Xn;Y1,Y2，...,Yn｝。n称为测试的长度。图中d 的例子是一个长度为2的T,T=｛(0,1),(0，0)；(0)，(0)｝。
数据域测量的主要目的是寻求尽可能完备的、短的测试集，产生测试所需的测试样式，捕获并显示输出样式，从而完成故障的侦查或定位。
产生测试样式的仪器称为样式发生器，或数字发生器。用各种方式捕获并显示输出样式的仪器称为逻辑分析仪，或故障寻迹仪。还有一类利用数据压缩技术作不完备测量用的简易仪器，称为特征分析仪。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条