1) H-300 transmission electron microscope
H-300透射电子显微镜
1.
Analyzing servicing and studying on zero spot in H-300 transmission electron microscope;
H-300透射电子显微镜无光斑故障的分析维修及探讨
2) Transmission electron microscope
透射电子显微镜
1.
Development of Digital Imaging System for transmission electron microscope;
透射电子显微镜数字成像系统的研制
2.
Methods By transmission electron microscope, the structure changes about tonoplast in RP and RCAS were observed.
方法 通过透射电子显微镜对葛根和刺五加药材细胞内液泡膜的变化进行观察。
3.
A study of the microstructures for the Al2O3 ceramic thin film in the laser -remelted area on a ZnAl - based alloy was performed by means of a transmission electron microscope associated with the techniques of optical microscope, scanning electron microscope, Auger electron spectroscope, and X ray diffraction.
用透射电子显微镜,并结合光学显微镜、扫描电子显微镜、俄歇电子能谱仪、X射线衍射等技术对锌铝基Al_2O_3陶瓷复合层激光重熔区的组织进行了分析。
3) transmission electron microscopy
透射电子显微镜
1.
8vol%TiB2 alloy with duplex structure consisting of primary equiaxed γ-grains and lamellar α2+γ colonies after creep deformation at elevated temperatures (650℃~750℃) under 250 MPa~350 MPa was studied by transmission electron microscopy (TEM).
利用透射电子显微镜对一种由等轴状γ和(γ+α2)区域组成的双态组织Ti-47Al-2Nb-2at%Mn+0。
2.
The core/shell latex par- ticle which was characterized by transmission electron microscopy (TEM)was elucidated in detail by two categories,i.
介绍了核壳型乳胶粒子的基本形态结构和常用的表征手段,详细说明了用透射电子显微镜(TEM)表征核壳型乳胶粒子结构的两种情况,即分析透射电子显微镜法、普通透射电子显微镜法(免染色法和选择性染色法),并给出了它们的适用范围。
3.
The sizes of SnO 2 nanocrystallines were determined by dynamic light scattering, X-ray diffraction, and computer analysis of nanocrystalline images of transmission electron microscopy.
通过动态光散射、X射线衍射和晶粒透射电子显微镜像测量 ,确定了SnO2 晶粒的线度 。
4) TEM
透射电子显微镜
1.
Fabrication of TEM Samples of Butted Films PLD;
透射电子显微镜对接膜样品的制作
2.
The Study of Current-Invariable Lens Power Supply for TEM;
透射电子显微镜透镜稳流电源的研究
3.
The observation of transmission electron microscopy(TEM) proved that the exfoliation nanocomposites were prepared.
透射电子显微镜考察表明,所制备的乙丙橡胶/OMM T纳米复合材料为剥离型结构;力学性能测试结果表明,当有机土含量仅为3份时,复合材料硫化胶的扯断强度是纯胶体系的5。
补充资料：透射电子显微镜
电子显微术的主要电子光学仪器。主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、 物镜、衍射镜、中间镜、 投影镜、荧光屏和照相机等组成。与光学显微镜的结构完全类似（见图）。透射电子显微镜的工作原理是一单色、单向、均匀而高速的微电子束，用薄试样相互作用时，束中的部分电子激发出与试样相关的二次电子、背散射电子、特征X射线和俄歇电子等信息。穿过试样的电子束,被散射偏离原有方向的叫散射电子束，未被散射的叫透射电子束。这两类电子束皆可用于成像。能获得衬度完全相反的两种像──取透射电子束经过物镜聚焦的像叫明场像；取散射电子束经过物镜聚焦的像叫暗场像。再经过中间镜和投影镜的多级放大，最终将欲观测的图像呈现在荧光屏上。
现代的高分辨率透射电镜,能分辨0.1纳米以下的微细物质结构,放大倍数可达100万余倍。这种电镜适用于晶体结构和缺陷的直接成像，即能观测原子或原团的排列,又能确定其所处的空间位置。另一类配有X射线能谱仪、电子能量损失谱仪、俄歇电子谱仪和扫描附件等的分析型电镜，可用于小至直径 4纳米范围内的晶体形态、成分和结构的分析。地质学中用于微细矿物，如粘土矿物的形态观察与鉴定；微细矿物的显微双晶、出溶、相变和位错研究等。
现代的高分辨率透射电镜,能分辨0.1纳米以下的微细物质结构,放大倍数可达100万余倍。这种电镜适用于晶体结构和缺陷的直接成像，即能观测原子或原团的排列,又能确定其所处的空间位置。另一类配有X射线能谱仪、电子能量损失谱仪、俄歇电子谱仪和扫描附件等的分析型电镜，可用于小至直径 4纳米范围内的晶体形态、成分和结构的分析。地质学中用于微细矿物，如粘土矿物的形态观察与鉴定；微细矿物的显微双晶、出溶、相变和位错研究等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条