1) order of depth
深度序列
2) Depth sequential analysis
深度序列分析
3) Unique Depth-First Traversal Sequence(UDFTS)
唯一深度优先遍历序列
4) sequential depth
时序深度
1.
In high-level test generation,to grasp better the structural information of high-level circuits,circuits based on Verilog hardware description language (HDL) are researched,and static sequential depth and dynamic sequential depth are introduced firstly.
在高层次测试生成中 ,为了更好地利用高层次电路的结构信息 ,以Verilog硬件描述语言描述的电路为研究对象 ,提出寄存器传输级 (RTL)集成电路的静态时序深度和动态时序深度概念 。
5) depth sorting
深度排序
6) sequential depth
顺序深度
补充资料：BCS穿透深度（BCSpenetrationdepth）
BCS穿透深度（BCSpenetrationdepth）
对纯超导体，由BCS电流方程，在伦敦极限下（`\xi_0\lt\lt\lambda`或$l\lt\lt\xi_0$）的穿透深度与伦敦穿透深度λL(T)相符。对非纯超导体（含杂质），在伦敦极限下为
$\lambda(T)=\lambda_L(T)(1 \xi_0//l)^{1/2}$
一般地，λL(T)由经验公式表示其与温度T的关系（见“伦敦穿透深度”）。在皮帕德极限下（$\xi_0\gt\gt\lambda$或$\xi_0\lt\ltl$），ξp=ξ0，则给出为
$\lambda(T)=\frac{8}{9}\lambda_L(T)[\frac{sqrt3\xi_0}{2\pi\lambda_L(T)}]^{1/3}$
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条